175度AD轉(zhuǎn)換器

北京啟爾特科技新到一批150度、175度、210度高溫AD轉(zhuǎn)換器,種類(lèi)繁多，各種型號(hào)溫度檔都有，歡迎廣大石油測(cè)井單位用戶(hù)來(lái)電咨詢(xún)，提供具體參數(shù)要求，我司有專(zhuān)門(mén)的工程師提供選項(xiàng)參考。

直接A/D轉(zhuǎn)換器可將模擬信號(hào)直接轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，這類(lèi)A/D轉(zhuǎn)換器具有較快的轉(zhuǎn)換速度，其典型電路有并行比較型A/D轉(zhuǎn)換器、逐次比較型A/D轉(zhuǎn)換器。分辯率(Resolution)指數(shù)字量變化一個(gè)很小量時(shí)模擬信號(hào)的變化量，定義為滿刻度與2n的比值。而間接A/D轉(zhuǎn)換器則是先將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成某一中間電量(時(shí)間或頻率)，然后再將中間電量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量輸出。

150度高速率AD轉(zhuǎn)換器

逐次逼近A/D轉(zhuǎn)換器是A/D轉(zhuǎn)換器的一種，其功能是將模擬量經(jīng)過(guò)“量化”變轉(zhuǎn)換成數(shù)字量。其結(jié)構(gòu)主要由比較器、D/A轉(zhuǎn)換器、逐次逼近寄存器和邏輯控制單元等組成。

其工作過(guò)程如下：轉(zhuǎn)換啟動(dòng)后，控制邏輯電路首先把逐次逼近寄存器的高位（例如D7）置1、其他位置0，將其存儲(chǔ)到逐次逼近寄存器，然后經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換后得到約為滿量程（例如2.5V）輸出一半的反饋電壓（例如1.25V）。這個(gè)預(yù)估計(jì)電壓值在比較器中與輸入信號(hào)進(jìn)行比較。若比較器判斷輸入電壓值比預(yù)估計(jì)電壓值高，則在下一次比較前對(duì)D7修正置1或0。模數(shù)轉(zhuǎn)換的方法很多，從轉(zhuǎn)換原理來(lái)分可分為直接法和間接法兩大類(lèi)。第二步，按對(duì)分原理，把逐次逼近寄存器的下一位（例如D6)置l，再次經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換器輸出與輸入信號(hào)進(jìn)行比較，不斷重復(fù)這個(gè)過(guò)程，直到完成LSB的轉(zhuǎn)換。這時(shí)逐次逼近寄存器的各位值均已確定，逐次逼近轉(zhuǎn)換完成。然而，現(xiàn)代的A/D轉(zhuǎn)換器已集成化，過(guò)程在lC內(nèi)部實(shí)現(xiàn)，分析其工作過(guò)程、學(xué)習(xí)其原理很抽象，對(duì)初學(xué)者來(lái)說(shuō)是很困難的。為了讓初學(xué)者能深入理解，可采用實(shí)驗(yàn)板進(jìn)行演示。

210度貼片AD轉(zhuǎn)換器

如果在放大器前端使用誤差5%的電阻，則該誤差將會(huì)導(dǎo)致12 位A/D 無(wú)法正常工作。也就是說(shuō)，A/D 的測(cè)量精度一定小于其轉(zhuǎn)換誤差、基準(zhǔn)電壓誤差與所有模擬放大器誤差的累計(jì)之和。失調(diào)誤差是由信號(hào)調(diào)理電路、ADC內(nèi)部轉(zhuǎn)移電路和電源電壓等因素造成的。雖然轉(zhuǎn)換精度會(huì)受到器件誤差的制約，但通過(guò)對(duì)每個(gè)系統(tǒng)單獨(dú)進(jìn)行定標(biāo)，也能夠得到較為滿意的輸出精度。如果使用定標(biāo)電壓作為標(biāo)準(zhǔn)輸入，且借助存儲(chǔ)在MCU 程序中的定標(biāo)電壓常數(shù)對(duì)所有輸入進(jìn)行糾正，則可以有效地提高轉(zhuǎn)換精度，但無(wú)論如何無(wú)法對(duì)溫漂或器件老化而帶來(lái)的影響進(jìn)行校正。

150度航天AD轉(zhuǎn)換器

在所有PLD中，由于GAL器件具有低功耗、高速度、可重復(fù)編程和輸出可重組態(tài)的特點(diǎn)，加上它的性?xún)r(jià)比明顯優(yōu)于SSI/MSI器件，所以被選用來(lái)完成高準(zhǔn)確度A/D轉(zhuǎn)換器的硬件邏輯控制電路。