鍍層分析儀的用途和特點(diǎn),一六儀器

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發(fā)布時(shí)間：2020-12-14 07:54

一六儀器專業(yè)測(cè)厚儀多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

軟件算法

?大致分為3個(gè)方法。一個(gè)是制作測(cè)量線的方法（經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法）。這個(gè)方法是測(cè)定幾點(diǎn)實(shí)際的已知厚度樣品，尋求想測(cè)定元素的熒光X射線強(qiáng)度和厚度之間的關(guān)系，以其結(jié)果為基礎(chǔ)測(cè)定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

?另一個(gè)方法是理論演算的基礎(chǔ)參數(shù)法（FP法）。這個(gè)方法在完全了解樣品的構(gòu)成和元素種類前提，利用計(jì)算的各個(gè)熒光X射線強(qiáng)度的理論值，推測(cè)測(cè)定得到未知樣品各個(gè)元素的熒光X射線強(qiáng)度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數(shù)法。它是基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上使用基本物理參數(shù)計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線熒光強(qiáng)度的。基于此再計(jì)算Lachance綜合校正系數(shù)，然后使用這些理論α系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)。它與經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法不同，這些校正系數(shù)是從“理論”上取得的，而非建立在“經(jīng)驗(yàn)”上。因而它也不需要那么多的標(biāo)樣，只要少數(shù)標(biāo)樣來校準(zhǔn)儀器因子。8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點(diǎn)

1.鍍層分析快速、無損，對(duì)樣品無需任何處理。一般測(cè)試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10S-1分鐘，分析精度高。

2.可測(cè)試超薄的鍍層。

3.可測(cè)試多鍍層，分析精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測(cè)量方法。

4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對(duì)比分析樣品，就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。

5.對(duì)于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對(duì)樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測(cè)量。

6.對(duì)分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別

7.不可以測(cè)試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

8.可以對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試

9.屬于對(duì)比分析儀器，測(cè)試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣