我們產(chǎn)品的核心競(jìng)爭(zhēng)力

1、 完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，目前已申請(qǐng)200多項(xiàng)，授權(quán)已達(dá)90多項(xiàng)，形成完整的知識(shí)產(chǎn)權(quán)保護(hù)體系和技術(shù)壁壘；

2、 轉(zhuǎn)籠型光盤存儲(chǔ)陣列結(jié)構(gòu)，突破國(guó)外技術(shù)封實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、效率較高、故障率低；

3、 斷點(diǎn)續(xù)刻，支持未刻滿的光盤接著刻錄，不浪費(fèi)光盤的空間（競(jìng)品都不支持此功能）；

4、 讀寫速度快，讀寫速度達(dá)480M/秒，配置同等數(shù)量光驅(qū)業(yè)界速度很快的；

5、 冗余性強(qiáng)，除支持RAID(0/5/6),光驅(qū)還支持1組熱備份和2組冷備份的冗余結(jié)構(gòu)；

6、 兼容性好，支持國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，兼容多種容量的光盤，平臺(tái)可對(duì)接多種存儲(chǔ)協(xié)議和存儲(chǔ)類型；

針對(duì)用戶的應(yīng)用系統(tǒng)可以做定制化開發(fā)，國(guó)外品牌的技術(shù)比較封閉，基本上不支持定制化開發(fā)或支持少量的定制開發(fā)；

以上就是為大家介紹的全部?jī)?nèi)容，希望對(duì)大家有所幫助。如果您想要了解更多光存儲(chǔ)的知識(shí)，歡迎撥打圖片上的熱線聯(lián)系我們。

光存儲(chǔ)技術(shù)

光存儲(chǔ)技術(shù)是采用激光照射介質(zhì)，激光與介質(zhì)相互作用，導(dǎo)致介質(zhì)的性質(zhì)發(fā)生變化而將信息存儲(chǔ)下來的。讀出信息是用激光掃描介質(zhì)，識(shí)別出存儲(chǔ)單元性質(zhì)的變化。在實(shí)際操作中，通常都是以二進(jìn)制數(shù)據(jù)形式存儲(chǔ)信息的，所以首先要將信息轉(zhuǎn)化為二進(jìn)制數(shù)據(jù)。寫入時(shí)，將主機(jī)送來的數(shù)據(jù)編碼，然后送入光調(diào)制器，這樣激光源就輸出強(qiáng)度不同的光束。

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光存儲(chǔ)：大數(shù)據(jù)時(shí)代的挑戰(zhàn)

容量挑戰(zhàn)：大數(shù)據(jù)時(shí)代，數(shù)據(jù)呈幾何級(jí)數(shù)快速增長(zhǎng)，全球數(shù)據(jù)圈將在2025年增至180ZB，冷數(shù)據(jù)約占總量的80%。如果完全采用傳統(tǒng)存儲(chǔ)模式，將會(huì)導(dǎo)致存儲(chǔ)成本的倍數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，經(jīng)濟(jì)效益低下。

安全挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)磁電存儲(chǔ)介質(zhì)，壽命周期短，海量數(shù)據(jù)遷移時(shí)經(jīng)常發(fā)生數(shù)據(jù)丟失的情況。

能耗挑戰(zhàn)：全球數(shù)據(jù)中心耗電量占全球總耗電量的比例為1.1%-1.5%。尋找低成本、綠色節(jié)能的存儲(chǔ)方式，成為溫冷數(shù)據(jù)存儲(chǔ)應(yīng)用領(lǐng)域的迫切需求。

云計(jì)算能有效地解決性能問題，卻無法解決冷數(shù)據(jù)長(zhǎng)期存儲(chǔ)問題。隨著時(shí)間的推移，冷數(shù)據(jù)大量增加，如果采用熱數(shù)據(jù)的方式存儲(chǔ)冷數(shù)據(jù)，會(huì)造成企業(yè)運(yùn)營(yíng)成本高、能耗大、安全性低等問題。

光存儲(chǔ)原理

所謂的光存儲(chǔ)，并不是簡(jiǎn)單地把光給存儲(chǔ)起來，而是激光器發(fā)出一束激光，當(dāng)激光遇到存儲(chǔ)材料時(shí)會(huì)發(fā)生物理或者化學(xué)反應(yīng)，也就是說材料的性質(zhì)發(fā)生了一定的變化，性質(zhì)發(fā)生變化的位置點(diǎn)我們視為二進(jìn)制數(shù)中的“1”；而激光沒有經(jīng)過的地方，材料的特性保持不變，這些位置點(diǎn)我們視為二進(jìn)制數(shù)中的“0”。當(dāng)完成記錄后，光盤上就留下一串串的二進(jìn)制數(shù)0011010101，這樣我們就成功的把數(shù)據(jù)刻錄在光盤上。當(dāng)我們需要將記錄的數(shù)據(jù)信息讀出時(shí)，一束激光在經(jīng)過記錄點(diǎn)“1”和非記錄點(diǎn)“0”時(shí)，兩者之間的折射率、熒光信號(hào)等材料性質(zhì)不同，正是這種差異可以將記錄點(diǎn)和非記錄點(diǎn)區(qū)分開，從而成功獲取我們存儲(chǔ)的信息。

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