手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持式光譜儀的應(yīng)用

陶瓷

陶土的元素組成通常和特定的出產(chǎn)地相關(guān)，這也使得手持式光譜儀成為現(xiàn)場考古發(fā)掘工作的一個重要工具，它所提供的信息無論是對于古品保護(hù)還是藝術(shù)品鑒定都具有重要的意義。

而且隨著科技的不斷發(fā)展，作為現(xiàn)代廢舊金屬回收行業(yè)，要在這里面獲益的話，需要真正判斷廢舊金屬的合金成分。這時手持式光譜儀就有了屬于自己的地位了，在這個時候手持式光譜儀一定可以為你帶來非常至關(guān)重要的作用。

手持式光譜儀的應(yīng)用——琉璃檢測

和金屬一樣，硫璃也能夠進(jìn)行重新熔融，因此琉璃的來源和其起初的產(chǎn)地并沒有相對的聯(lián)系。但元素分析可以對硫璃是何時何地以及如何制造的細(xì)節(jié)提供一些重要信息，尤其是在使用各種助熔劑的情況下，根據(jù)元素組成信息往往可以判斷出特定的地理環(huán)境和特定的歷史時期。另外，著色劑、漂白劑、遮光劑以及澄清劑的鑒別均有助有來源地的判定。這對于琉璃藝術(shù)品的保護(hù)和保存具有重要意義。