KOAN 高穩(wěn)恒溫晶振 SC 切晶體之優(yōu)點(diǎn)

a) 開(kāi)機(jī)特性好，SC 切諧振器的熱過(guò)沖比 AT 切晶體諧振器約小兩個(gè)數(shù)量級(jí)，因此 SC 切晶體振蕩器加電后能很快達(dá)到頻率穩(wěn)定；

b) 老化小，SC 切晶體的應(yīng)力效應(yīng)很小，由應(yīng)力馳豫引起的老化也?。?

c) 幅頻效應(yīng)小，SC 切晶振的幅頻效應(yīng)大約是 AT 切晶振的一半，因此 SC

切晶體的激勵(lì)電平可比 AT 切晶體大一個(gè)數(shù)量級(jí)，老化不會(huì)增加；

d) 恒溫晶振 SC 切短期頻率穩(wěn)定性，抗輻射，抗加速度都非常好。

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KOAN 恒溫晶振頻率老化率

在恒定的環(huán)境條件下測(cè)量振蕩器頻率時(shí)，振蕩器頻率和時(shí)間之間的關(guān)系。這種長(zhǎng)期頻率漂移是由晶體元件和振蕩器電路元件的緩慢變化造成的，因此，其頻率偏移的速率叫老化率，可用規(guī)定時(shí)限后的大變化率（如±10ppb/天，加電 72 小時(shí)后），或規(guī)定的時(shí)限內(nèi)大的總頻率變化（如：±1ppm/（首年）和±5ppm/（十年））來(lái)表示。

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影響 KOAN 恒溫晶振頻率漂移（老化）的主要機(jī)理

1) 引起晶振頻率漂移的是石英諧振器的參數(shù)，動(dòng)態(tài)電容和動(dòng)態(tài)電感隨時(shí)間而變化；

2) 加在石英片的機(jī)械應(yīng)力變化引起的頻率漂移，稱為馳豫效應(yīng)；

3) 晶片表面污染和或封裝盒內(nèi)部污染也是造成諧振器老化的一個(gè)重要原因；

4) 流過(guò)諧振器激勵(lì)電流的大小對(duì)老化率有影響；

5) 振蕩電路和恒溫控制電路中有源和無(wú)源元件的老化也會(huì)影響振蕩頻率的老化率。

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KOAN 恒溫晶振的長(zhǎng)期和短期頻率穩(wěn)定度概念解釋

低老化率晶振是指長(zhǎng)期穩(wěn)定度比較好，低噪聲晶振是指短期頻率穩(wěn)定度比較好。低老化率晶振都是指恒溫晶振，無(wú)論低噪聲晶振或低老化晶振，都要求石英諧振器的 Q 值盡可能高。低老化率晶振和低噪聲晶振的設(shè)計(jì)，在有些方面是互相矛盾的，因此選擇恒溫晶振參數(shù)中低老化率和低噪聲時(shí)，要結(jié)合產(chǎn)品的長(zhǎng)期和短期頻率穩(wěn)定度要求，KOAN 恒溫晶振已經(jīng)使矛盾兼顧平衡。