ZEISS RDS-D動態(tài)旋轉測座，可選配光學與接觸式測頭系統(tǒng)。

采用側面旋轉技術的動態(tài)旋轉測座于兩個方向均可實現±180°旋轉，步距角2.5°，

空間旋轉位置可達20736個。采用CAA技術，極大的節(jié)約了探針校準與檢測時間。

適用于ZEISS RDS-D的掃描與多點觸測式測頭系統(tǒng)。掃描測量率達150點/秒

使用TL3模塊時，探針長度 = 30-150 mm；長加長桿 = 100 mm；

大探針重量 = 15 g；小探針直徑 = 0.3 mm.

經過幾十年的技術和發(fā)展，齒輪測量技術已經可以滿足很多區(qū)域的測量，如未知輪廓、實驗室測量、單件及批量化、生產車間、內外齒輪測量、三或者四軸聯動式、垂直或水平裝夾等多用途需求。其中主要體現兼顧：1，滿足多元化的齒輪測量要求；2，滿足包括殼箱體等在內的幾何量測量需求，這樣不僅能提高利用率，還可以節(jié)省額外齒輪檢測裝備的投資及其相關培訓、使用、工程及維護成本。

在測量使用時也比較方便，只要根據被測工件的圖紙輸入一些像壓力角、模數、變位系數以及齒數等等相關的參數，就可以很快的生成CAD模型，不僅讓齒輪變得可視化量測，還可以滿足像一些像形狀偏差的測量，如齒根圓直徑、齒厚、齒形、齒向、徑跳、齒距等等的測量評定，而且還擁有格里森及克林貝格等多樣化的接口，還可以提供K形圖，實現PiWeb，ASCII及PDF等多樣化的質量報告輸出。