一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀 

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源（UPS）。

3．鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環(huán)境溫度和濕度應保持恒定。

5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。

6．為避免短路，嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器，請立刻關閉儀器并在重新使用前請技術人員整體檢查儀器。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調校標準片，否則會造成讀數錯誤。

9．不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調校標準片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

軟件算法

?大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法（經驗系數法）。這個方法是測定幾點實際的已知厚度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和厚度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

?另一個方法是理論演算的基礎參數法（FP法）。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的。基于此再計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強。它與經驗系數法不同，這些校正系數是從“理論”上取得的，而非建立在“經驗”上。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數標樣來校準儀器因子。

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測厚儀  元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）   

                                                     厚度分析范圍：各種元素及有機物 

     x射線熒光鍍層測厚儀（國產）是一款針對金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過X熒光照射出產品，每個元素反射出的二次特征譜線，通過檢測器分析出強度來金屬鍍層的厚度，完全達到無損、快速分析的效果，產品廣泛應用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)（鋁平行管、電鍍五金），連接器企業(yè)、開關企業(yè)等。濕化學電解分析需選用適當溶劑溶解選定的鍍層，逐層溶解并進行測定，方法準確但費時費力，尤其是相關特定溶劑的選擇也非常復雜，價格又貴，屬于典型破壞性樣品檢測，測量手段手段繁瑣，速度慢，電解液耗損大，目前一般很少應用。

     x射線熒光鍍層測厚儀性能優(yōu)勢

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

minimum  φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術參數

一次可同時分析多達五層鍍層

度適應范圍為15℃至30℃

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

分析含量一般為2ppm到99.9%