一鍵測量儀的結(jié)構(gòu)組成及光學(xué)原理特點？

     影像測量儀一般由機械、照明、測長、圖像采集、計算機和測量軟件等六部分組成。影像測量儀的光學(xué)原理與普通投影儀很類似,區(qū)別在于影像前者被測件的輪廓影像被CCD傳感器接收并由計算機進行圖像采集和處理,后者則直接把影像投射到投影觀測屏,輪廓對準(zhǔn)有操作者的人眼完成,因而導(dǎo)致兩者測量精度和自動化程度相差很大。影像測量儀一般具有較大的測量范圍,通常配備有(0.7x~4.5x)的變焦物鏡,照明光源除了常見的底光和頂光外,還有環(huán)形照明光,適合于底光和頂光都不能有效照明時應(yīng)用。

?一鍵測量儀的誤差來源？

    在影像測量儀上的測量均是單軸或二維平面坐標(biāo)的測量,測量時先對焦,后對準(zhǔn),再讀數(shù)(計數(shù)),然后計算處理。讀數(shù)來自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng),對焦對準(zhǔn)依靠顯微鏡光學(xué)系統(tǒng),還有一個直接影響測量效果和精度的照明光源,因為,基于影像方法測量的儀器,如果被測件不能被有效正確的照明,則測量的結(jié)果顯然要偏離其真實尺寸。除前述因素外,環(huán)境條件也是制約測量精度不可忽視的因素。

    基于上述分析,可以歸納出以下幾個方面的誤差來源:

a、光柵計數(shù)尺的誤差;

b、工作臺移動時存在的直線度、角擺帶來的誤差;

c、工作臺兩測量軸垂直度帶了的誤差;

d、顯微鏡光軸與工作臺面不垂直帶了的誤差;

e、測量室溫度帶來的誤差;

f、光源照明條件的變化帶來的對焦和對準(zhǔn)誤差。

     在這幾種因素中,前四項誤差,是硬件誤差,在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來,一般無法改變;溫度影響帶來的誤差,通過控制測量室的溫度和等溫過程來減小其影響。

     其中有一項則常被忽視,而在實際測量中,當(dāng)光源照明條件改變時,直接影響被測工件的照明效果和影像質(zhì)量,主要是因為影像測量儀的圖像是通過CCD接收,盡管CCD具有自動調(diào)節(jié)增益的功能,但當(dāng)亮度過大時即失去調(diào)節(jié)功能,導(dǎo)致被測工件影像在縮小,當(dāng)亮度過低時,工件影像反而變大。

     這種影響,對于測量具有重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)之間的間距時,只要整個測量過程中照明條件保持不變,其影響可以忽略,因為每個重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)都同時在變大或變小,間距的測量計算直接消除了影像變形的影響,如測量玻璃尺、網(wǎng)格板刻線間距;除了這種特殊情形外,如測量圓的直徑、工件的長度和寬度,都將帶來明顯的誤差。

?一鍵式測量儀的優(yōu)點？

      質(zhì)量是每個企業(yè)的招牌，由于沒有自動化的檢測設(shè)備，很多企業(yè)都以人工挑選質(zhì)量為中心，現(xiàn)如今，一鍵式測量儀的出現(xiàn)正在改變這樣的模式。一鍵式測量儀以同時可以測量多個工件的優(yōu)勢，讓用戶減少了人工的成本，還提高了檢測的效率，在質(zhì)量上可以減少人為造成的誤差，從而在質(zhì)量上得到了保障。

   一鍵式測量儀配置了雙遠心光學(xué)鏡頭，IVT圖像分析方法，256灰度等級，10:1亞像素處理技術(shù)。這樣讓用戶在畫面清晰的情況下進行采點線圓，避免了因為畫面模糊造成了測量誤差。客戶在使用一鍵測量儀的情況下，不會因為測量誤差導(dǎo)致產(chǎn)品不合格，而造成的經(jīng)濟損失。