ICP光源觀察方式

雙向觀測(cè)：雙向觀測(cè)是在水平觀測(cè)ICP光源的基礎(chǔ)，增加一套側(cè)向采光光路，實(shí)現(xiàn)垂直/水平雙向觀測(cè)，即在炬管垂直觀測(cè)的方向依次放置3塊反射鏡，當(dāng)要使用垂直觀測(cè)的時(shí)候，就通過3塊反射鏡把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通過旋轉(zhuǎn)原光路的塊反射鏡，使垂直方向來的光與原水平方向來的光在整個(gè)光路中重合。ICP光譜儀的使用或管理人員不明白電子常識(shí)，不了解儀器構(gòu)造，不要容易去動(dòng)，避免發(fā)生意外，除塵應(yīng)事前停機(jī)并關(guān)掉供電電源下進(jìn)行。該觀測(cè)方式的切換反射鏡由計(jì)算機(jī)控制，該方式融合了軸向、徑向的特點(diǎn)，具有一定的靈活性，增強(qiáng)了測(cè)定復(fù)雜樣品的能力。改觀測(cè)方式可實(shí)現(xiàn)以下3中方式的測(cè)量：

①全部元素譜線水平測(cè)量。

②全部元素譜線垂直測(cè)量。

③部分元素譜線水平測(cè)量，部分元素譜線垂直測(cè)量。

雙向觀測(cè)能有效解決水平觀測(cè)中存在的電子干擾，進(jìn)一步擴(kuò)寬線性范圍。但是該觀測(cè)方式需要不斷地切換反射鏡，可 能導(dǎo)致儀器的穩(wěn)定性變差。隨著電腦在光譜儀中的應(yīng)用，使儀器的檢測(cè)水平大幅提高，功能更智能，許多故障都可以通過電腦自帶的診斷程序進(jìn)行檢測(cè)。由于徑向觀測(cè)的需要，炬管側(cè)面必須開口，導(dǎo)致炬管的壽命大大降低，同時(shí)也改變了炬焰的形狀。炬管開口處必須嚴(yán)格與光路對(duì)準(zhǔn)，要不然炬管壁容易積累鹽，會(huì)使檢測(cè)結(jié)果嚴(yán)重錯(cuò)誤;同時(shí)如果在開口出現(xiàn)積鹽同樣也會(huì)導(dǎo)致儀器檢測(cè)結(jié)構(gòu)存在嚴(yán)重的錯(cuò)誤，必須注意清洗。而且增加了曝光次數(shù)，降低了分析速度，增加了分析消耗。

ICP光譜儀的工作房間需要注意什么?

ICP光譜儀的工作房間需要注意什么?請(qǐng)?jiān)影l(fā)射光譜儀廠家來為我們介紹一下。

首先對(duì)氣候比較濕潤(rùn)地區(qū)的用戶，必須配置大于50L的除濕機(jī)一臺(tái)，不然光譜分析儀由于受潮難于正常工作。例如在梅雨季節(jié)光譜分析儀發(fā)生故障的頻次比其他季節(jié)要高，原因就是空氣中的濕度高造成的。

其次房間地面應(yīng)該采用防潮處理，工作房間不應(yīng)該選擇樓底，二樓比較合適，平時(shí)地面不應(yīng)該用濕拖把清掃地面，吸塵器或半干拖布來處理;如果不常用，每天必須通電一次，通過部分電量損失發(fā)熱出去電子元件上的水分，梅雨季節(jié)更要經(jīng)常開機(jī)，利用內(nèi)部散發(fā)的熱量來除潮;電器元件受潮后會(huì)降低絕緣性能，可用熱吹風(fēng)吹干，禁止貿(mào)然使用，否則會(huì)擊穿電器元件發(fā)生短路造成光譜分析儀電路系統(tǒng)被燒毀;對(duì)于比較干燥的地區(qū)，可以根據(jù)室內(nèi)濕度波動(dòng)酌情處理，如果常年大部分時(shí)間濕度都保持在(55±10)%RH波動(dòng)，可不配置除濕機(jī)。因?yàn)镮CP發(fā)射光譜法受樣品基體的影響很小，所以參比樣品無須進(jìn)行嚴(yán)格的基體匹配，同時(shí)在一般情況下亦可不用內(nèi)標(biāo)，也不必采用添加劑，因此它具有良好的準(zhǔn)確度。

ICP光譜儀是什么構(gòu)成的？

一臺(tái)典型的ICP光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。

5. 探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。

ICP發(fā)射光譜常見問題

　1、影響等離子體溫度的因素有： 載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降; 載氣的壓力：激發(fā)溫度隨載氣壓力的降低而增加; 頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而，近似線性關(guān)系，在其他條件相同時(shí)，增加頻率，放電溫度降低; 第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑(如T1)的等離子體，電子溫度將增加。ICP光譜儀的作用雖然儀器的靈敏度在一定范圍內(nèi)波動(dòng)，但仍有一合理的波動(dòng)范圍，如信號(hào)強(qiáng)度或測(cè)量RSD異常應(yīng)注意檢查。

　　2、電離干擾的消除和抑制 原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。由于光譜的特征性強(qiáng)，所以對(duì)于一些化學(xué)性質(zhì)極相似的元素的分析具有特別重要的意義。它使火焰中分析元素的中性原子數(shù)減少，因而降低分析信號(hào)。在標(biāo)準(zhǔn)和分析試樣中加入過量的易電離元素，使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當(dāng)高的水平上，從而抑制或消除分析元素的電離。此外，由于溫度愈高，電離度愈大，因此，降低溫度也可減少電離干擾。