一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

能量色散X熒光光譜儀定義及原理

X射線熒光光譜儀是一種可以對多元素進行快速同時測定的儀器。試樣受X射線照射后，其中各元素原子的內(nèi)殼層（K，L或M層）電子被激發(fā)逐出原子而引起電子躍遷，并發(fā)射出該元素的特征X射線熒光。每一種元素都有其特定波長的特征X射線。這個方法在完全了解樣品的構(gòu)成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。能散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）利用熒光X射線具有不同能量的特點，由探測器本身的能量分辨本領(lǐng)來分辨探測到的X射線。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

先進的技術(shù)，專業(yè)的團隊，嚴格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。

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二． 磁感應測量原理鍍層厚度分析儀

采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測厚儀

      電鍍液測量杯整套含兩個測量杯，可用于多品牌X-RAY測厚儀上使用，高純元素本底提高測量精度和檢出限。電鍍液測試樣品杯，嚴格控制了容量和溢出物的處理，用來測試溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡捷，無污染。

測試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測膜，光譜儀樣品薄膜；是應用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡捷，無污染的測試用樣品薄膜，廣泛應用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關(guān)系，以其結(jié)果為基礎(chǔ)測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

江蘇一六儀器    X射線熒光光譜測厚儀

產(chǎn)品配置

X光金屬鍍層測厚儀標準配置為：X射線管，正比計數(shù)器﹨半導體探測器，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。

性能指標

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV，管電流1mA

可測元素：CI～U

檢測器：正比計數(shù)管

樣品觀察：CCD攝像頭

測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動高度 20mm