一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆

層測厚時采用。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

波長色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的，X光管激發(fā)樣品，檢測器測量來自樣品的射線，但波長色散型X射線熒光光譜儀的檢測器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測器不同。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此，可以進行元素定量分析。波長色散型X射線熒光光譜儀的計策系統(tǒng)由一套準直器，衍射晶體和探測器組成，來自樣品的特征譜線照射到鏡頭上，晶體將不同波長(能量)的譜線衍射到不同的方向，（相當于棱鏡將復合光分解成不同的單色光），將檢測器放置在一定的角度，就可測量某一波長的譜線強度。將分光晶體和探測器裝在測角儀上，使它在一定角度范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動，一次測量不同波長長譜線的強度，使用這種形式的光譜儀稱為順序掃描式光譜儀。安裝固定檢測系統(tǒng)的稱為同時式光譜儀，每一套檢測系統(tǒng)都有自己的晶體和探測器，分別測量某一特定元素的譜線，各譜線的強度同時被測量，這就很容易理解為什么稱它為固定道波長色散型光譜儀，另外也有固定式和轉(zhuǎn)動式結(jié)合的儀器。X射線波長色散型光譜儀一般有光源（X-射線管）、樣品室

分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。

     一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

   江蘇一六儀器  X熒光測厚儀測試要求：

工作要求：

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強電磁干擾。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

7 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

8 儀器重量 ：55kg

9 分析軟件EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析

10 軟件操作人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤

11 X射線裝置：W靶微聚焦加強型射線管