拉曼光譜儀的工作原理

當一束頻率為v0的單色光照射到樣品上后，分子可以使入射光發(fā)生散射。大部分光只是改變光的傳播方向，從而發(fā)生散射，而穿過分子的透射光的頻率，仍與入射光的頻率相同，這時，稱這種散射稱為瑞利散射；還有一種散射光，它約占總散射光強度的 10^-6～10^-10，該散射光不僅傳播方向發(fā)生了改變，而且該散射光的頻率也發(fā)生了改變，從而不同于激發(fā)光（入射光）的頻率，因此稱該散射光為拉曼散射。在拉曼散射中，散射光頻率相對入射光頻率減少的，稱之為斯托克斯散射，因此相反的情況，頻率增加的散射，稱為反斯托克斯散射，斯托克斯散射通常要比反斯托克斯散射強得多，拉曼光譜儀通常大多測定的是斯托克斯散射，也統(tǒng)稱為拉曼散射。散射光與入射光之間的頻率差v稱為拉曼位移，拉曼位移與入射光頻率無關，它只與散射分子本身的結構有關。拉曼散射是由于分子極化率的改變而產(chǎn)生的（電子云發(fā)生變化）。拉曼位移取決于分子振動能級的變化，不同化學鍵或基團有特征的分子振動，ΔE反映了特定能級的變化，因此與之對應的拉曼位移也是特征的。這是拉曼光譜可以作為分子結構定性分析的依據(jù)。

拉曼光譜技術在材料科學研究中的應用    

拉曼光譜在材料科學中是物質結構研究的有力工具，在相組成界面、晶界等課題中可以做很多工作。包括：

（1）薄膜結構材料拉曼研究：拉曼光譜已成CVD（化學氣相沉積法）制備薄膜的檢測和鑒定手段。拉曼可以研究單、多、微和非晶硅結構以及硼化非晶硅、氫化非晶硅、金剛石、類金剛石等層狀薄膜的結構。

（2）超晶格材料研究：可通過測量超晶格中的應變層的拉曼頻移計算出應變層的應力，根據(jù)拉曼峰的對稱性，知道晶格的完整性。

（3）半導體材料研究：拉曼光譜可測出經(jīng)離子注入后的半導體損傷分布，可測出半磁半導體的組分，外延層的質量，外延層混品的組分載流子濃度。

（4）耐高溫材料的相結構拉曼研究。

（5）全碳分子的拉曼研究。

（6）納米材料的量的子尺寸效應研究。

拉曼光譜儀

 拉曼光譜儀早已運用在各行各業(yè)，并不稀奇。但是各行業(yè)都是利用拉曼光譜在橫坐標上的變化檢測器物質的不同。運用在古陶瓷鑒定上則是近些年的事情。

  泰科施普——銷售 拉曼光譜儀，我們公司堅持用戶為上帝，想用戶之所想，急用戶之所急，以誠為本，講求信譽，以產(chǎn)品求發(fā)展，以質量求生存，我們熱誠地歡迎各位同仁合作共創(chuàng)輝煌。

總是在測試時得到一些位置重復的、尖銳的譜峰，為什么？

當你在重復測試一個樣品時發(fā)現(xiàn)有一些尖銳譜線在相同的位置重復出現(xiàn)時，可以排除它們是宇宙射線的可能(因宇宙射線的位置足隨機的)。這些重復的尖銳譜線通常來自日光燈的發(fā)射或CRT顯示器的磷光發(fā)射，尤其當用長工作距離的物鏡時問題更嚴重。它們也可能來自氣體激光器發(fā)射的等離子線，需仔細鑒別。

拉曼光譜中的熒光干擾來自于gong的發(fā)射，可以將室內(nèi)的日光燈關閉或在較暗的白熾燈下工作。儀器室內(nèi)應盡可能暗。簡單的做法是將儀器室裝飾成暗房樣式，以避免任何來自所謂白光發(fā)射的無數(shù)反常規(guī)的發(fā)射譜線。

磷光線的干擾主要是CRT顯示器上所鍍磷光物質引起。如發(fā)現(xiàn)此種情況，可將CRT顯示器關掉或將熒光屏的亮度調(diào)暗。需要牢記的是：這些發(fā)射譜線的波數(shù)值永遠是在同一個坐標值上，當轉換不同波長激光激發(fā)時它們在拉曼譜上的位置是隨著移動和改變的。

當上述方法都不能解決問題而你正在使用514nm激光進行激發(fā)時，檢查等離子線濾光片是否已經(jīng)插上。在其它激光配置系統(tǒng)中，要么不需要檢查，要么激光器上已經(jīng)包含了濾光片。