本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測儀特點(diǎn)：寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應(yīng)顯微鏡下的微距量測口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

  下圖為積分半球光學(xué)系統(tǒng)。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會與實際情況有所不同。(本次系統(tǒng)采用的是積分半球)。

 積分全球/半球 ，在遭受到強(qiáng)大的沖擊力后有可能會產(chǎn)生變形甚至損壞。對于這種情況，我司將不承擔(dān)責(zé)任。積分半球的內(nèi)側(cè)涂有硫酸i鋇或者是Spectralon，受到污染后如需要交換可與我司聯(lián)系。貨期大約為1.5個月左右。