FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

基本規(guī)格

(1) 測試樣品及環(huán)境

(a) 樣品：粉狀樣品

(2) 儀器的功能

(a) 激發(fā)熒光樣品，對熒光光譜進行測試。

(b) 為了消除積分球內(nèi)反射的激發(fā)光而激發(fā)的熒光，配有“再激發(fā)修正”功能。

(c) 具有對樣品的量子效率、反射、吸收作測試的功能。

(d) 樣品設(shè)置采用手動方式。

(e) 可實現(xiàn)控溫和量子效率測試同步進行的功能。

(3) 儀器的構(gòu)成

(a) 暗箱內(nèi)部置有積分球光學系統(tǒng)。

(4) 溫控單元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加熱器加熱、風冷制冷。

(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環(huán)、斷熱。

(d) 控制用溫度探頭是一個具備獨立的防止過度升溫的溫度探頭。

熒光材料樣品所反射的激發(fā)光，在積分球內(nèi)壁上反射，并再次照射到熒光材料樣品上，發(fā)出熒光的現(xiàn)象叫做再激發(fā)。為了修正這個熒光發(fā)光的成份，如圖所示，改變Xe激發(fā)光（投光用光纖）的角度，將激發(fā)光的照射點改為樣品口的硫i酸鋇（或Spectralon）一面來進行測試。這樣可以將對積分球內(nèi)壁上漫反射引起的再激發(fā)熒光成份進行測試，實行修正。