江蘇一六儀器   X射線熒光測(cè)厚儀    十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì)      集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

性能優(yōu)勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

測(cè)厚儀

    測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。測(cè)厚儀精度怎么測(cè)：測(cè)厚儀精度不需要自行測(cè)試，只需打開說(shuō)明書或者測(cè)厚儀銘牌出就可以找到具體精度。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級(jí)X射線照射待測(cè)樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)X射線，入射的X射線具有相對(duì)較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線德國(guó)物理學(xué)家倫琴在研究稀薄氣體放電實(shí)驗(yàn)時(shí)，采用了一種特殊裝置，此裝置發(fā)射電子，在陰極相對(duì)的位置裝置金屬陽(yáng)極，在陰陽(yáng)兩極之間加以高電壓，當(dāng)容器充有稀薄氣體時(shí)，氣體中可觀察到放電現(xiàn)象，試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)的這種未知射線，倫琴命名為X射線。X射線熒光光譜的波長(zhǎng)在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長(zhǎng)的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。江蘇一六儀器有限公司是一家擁有先進(jìn)的技術(shù)，you秀的良將，嚴(yán)格的企業(yè)管理的公司。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

    我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以，那么X射線測(cè)厚儀測(cè)量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了，如果X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度發(fā)生了偏差，那么生產(chǎn)出來(lái)的產(chǎn)品就不會(huì)！eX射源安裝完畢，在開啟的狀態(tài)下，對(duì)周圍的射線輻射劑量進(jìn)行檢測(cè)，在安全區(qū)不得超過(guò)人體當(dāng)量的允許值（一般情況下是安全的）。由此可知測(cè)厚儀的測(cè)量精度有多么重要，因此，這次在這與大家分享下X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些:

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響；

第二,在X射線測(cè)厚儀通過(guò)施加高壓釋放出X射線時(shí),X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會(huì)影響X射線對(duì)被測(cè)物體的測(cè)量；

第三,在測(cè)量過(guò)程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度；

第四,在生產(chǎn)過(guò)程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。

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儀器規(guī)格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

儀器重量 ：55kg

供電電源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測(cè)厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測(cè)厚儀的分類，也就是說(shuō)測(cè)厚儀是膜厚儀的上司一樣，對(duì)此我們也可以來(lái)了解下測(cè)厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測(cè)厚儀按原理分類:激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、壓力測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀。

測(cè)厚儀的原理：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。