相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點(diǎn)：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關(guān)于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關(guān)于顏色

4、關(guān)于客服

客戶全天24小時(shí)在線，如需緊急處理，請致電公司 。

5、關(guān)于售后

日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內(nèi)。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。通過多折射位相差（RE.）來計(jì)算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，測定精度高。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

測定haze補(bǔ)正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補(bǔ)正table. 反復(fù)性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準(zhǔn)樣本(偏光板)的測量結(jié)果（0.1s間隔 定點(diǎn)15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉(zhuǎn)治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準(zhǔn)面，只反轉(zhuǎn)樣品進(jìn)行測定。因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置，作為設(shè)置場所，請考慮以下條件。

偏光計(jì)測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強(qiáng)度pattern，因與以往的偏光計(jì)測裝置相比，其無偏光子回旋機(jī)構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準(zhǔn)備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實(shí)現(xiàn)測量。

設(shè)置場所    ?。骸∥輧?nèi)設(shè)置（避免太陽直射）

   周圍溫度    ：２０～３5℃ 不存在溫度急劇變化的場合

   相對濕度    ：３０～８０％

   周圍環(huán)境    ： 濕氣、灰塵少、無腐蝕性氣體、換氣良好

   電壓　    ：　AC110V±10V（單相）

             ：沒有急劇的負(fù)載變化 。  

             ：附近沒有顯著噪聲源。接地應(yīng)該是接地電阻１００Ω以下。