數(shù)字IC設(shè)計什么怎么進(jìn)行的？

1、 需求分析。分析用戶或市場的需求，并將其翻譯成對芯片產(chǎn)品的技術(shù)需求。

2、 算法設(shè)計。設(shè)計和優(yōu)化芯片中所使用的算法。這一階段一般使用語言（如CC ），利用算法級建模和工具（如Matlab，SPW）進(jìn)行浮點(diǎn)和定點(diǎn)的，進(jìn)而對算法進(jìn)行評估和優(yōu)化。

3、 架構(gòu)設(shè)計。根據(jù)設(shè)計的功能需求和算法分析的結(jié)果，設(shè)計芯片的架構(gòu)，并對不同的方案進(jìn)行比較。選擇性能價格方案。這一階段可以使用SystemC語言對芯片價格進(jìn)行建模和分析。

4、 RTL設(shè)計。使用HDL語言完成對設(shè)計實(shí)體的RTL級描述。這一階段使用VHDL或Verilog HDL語言的輸入工具編寫代碼。

2、 算法設(shè)計。設(shè)計和優(yōu)化

數(shù)字IC密碼算法介紹

數(shù)字IC密碼算法主要分三類：對稱算法、非對稱算法、雜湊算法。

SM1對稱密碼算法：一種分組密碼算法，分組長度為128位，密鑰長度為128比特。

主要產(chǎn)品有：智能IC卡、智能密碼鑰匙、加密卡、加密機(jī)等安全產(chǎn)品。

SM2橢圓曲線公鑰密碼算法（非對稱）：一種橢圓曲線公鑰密碼算法，其密鑰長度為256比特。

SM3雜湊算法：一種密碼雜湊算法，其輸出為256比特。

適用于SM22橢圓曲線公鑰密碼算法中的數(shù)字簽名和驗(yàn)證。

SM4對稱密碼算法：一個分組算法，用于無線局域網(wǎng)產(chǎn)品。

SM7對稱密碼算法：一種分組算法，分組長度為128比特，密鑰長度為128比特。

適用于非IC卡應(yīng)用，例如門禁卡、參賽證、門票，支付類校園一卡通，公交一卡通，企業(yè)一卡通

**SM9非對稱算法：**是基于對的標(biāo)識密碼算法，與SM2類似。區(qū)別于SM2算法，SM9算法是以用戶的標(biāo)識（例如：、郵箱等）作為公鑰，省略了交換數(shù)字證書公鑰過程。

適用于云存儲安全、物聯(lián)網(wǎng)安全、電子郵件安全、智能終端保護(hù)等。

數(shù)字ic后端設(shè)計（二)

4.時鐘樹生成(CTS Clock tree synthesis) 。

芯片中的時鐘網(wǎng)絡(luò)要驅(qū)動電路中所有的時序單元，所以時鐘源端門單元帶載很多，其負(fù)載很大并且不平衡，需要插入緩沖器減小負(fù)載和平衡。時鐘網(wǎng)絡(luò)及其上的緩沖器構(gòu)成了時鐘樹。一般要反復(fù)幾次才可以做出一個比較理想的時鐘樹。---Clock skew.

5. STA 靜態(tài)時序分析和后。

時鐘樹插入后，每個單元的位置都確定下來了，工具可以提出GlobalRoute形式的連線寄生參數(shù)，此時對參數(shù)的提取就比較準(zhǔn)確了。SE把.V和.SDF文件傳遞給PrimeTime做靜態(tài)時序分析。確認(rèn)沒有時序違規(guī)后，將這來兩個文件傳遞給前端人員做后。NanoSim(Star-SIMXT)NanoSim集成了業(yè)界的電路技術(shù)，支持Verilog-A和對VCS器的接口，能夠進(jìn)行電路的工具，其中包括存儲器和混合信號的。對Astro 而言，在detail routing 之后，

用starRC XT 參數(shù)提取，生成的E.V和.SDF文件傳遞給PrimeTime做靜態(tài)時序分析，那將會更準(zhǔn)確。

6. ECO(Engineering Change Order)。

針對靜態(tài)時序分析和后中出現(xiàn)的問題，對電路和單元布局進(jìn)行小范圍的改動.

7. Filler的插入(pad fliier, cell filler)。

Filler指的是標(biāo)準(zhǔn)單元庫和I/O Pad庫中定義的與邏輯無關(guān)的填充物，用來填充標(biāo)準(zhǔn)單元和標(biāo)準(zhǔn)單元之間，I/O Pad和I/O Pad之間的間隙，它主要是把擴(kuò)散層連接起來，滿足DRC規(guī)則和設(shè)計需要。

8. 布線(Routing)。

Global route-- Track assign --Detail routing--Routing optimization布線是指在滿足工藝規(guī)則和布線層數(shù)限制、線寬、線間距限制和各線網(wǎng)可靠絕緣的電性能約束的條件下，根據(jù)電路的連接關(guān)系將各單元和I/OPad用互連線連接起來，這些是在時序驅(qū)動(Timing driven )的條件下進(jìn)行的，保證關(guān)鍵時序路徑上的連線長度能夠。主要的工具有：LEDALEDA是可編程的語法和設(shè)計規(guī)范檢查工具，它能夠?qū)θ酒腣HDL和Verilog描述、或者兩者混合描述進(jìn)行檢查，加速SoC的設(shè)計流程。--Timing report clear

IC產(chǎn)品的質(zhì)量解說

質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC 產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)，長久的耐力往往就是一顆IC產(chǎn)品的競爭力所在。在做產(chǎn)品驗(yàn)證時我們往往會遇到三個問題，驗(yàn)證什么，如何去驗(yàn)證，哪里去驗(yàn)證，這就是what, how , where 的問題了。解決了這三個問題，質(zhì)量和可靠性就有了保證，制造商才可以大量地將產(chǎn)品推向市場，客戶才可以放心地使用產(chǎn)品?，F(xiàn)將目前較為流行的測試方法加以簡單歸類和闡述，力求達(dá)到拋磚引玉的作用。稍微想深一層就知道這個門極導(dǎo)電底下的溝道也導(dǎo)電，那就必須中間有個絕緣介質(zhì)把他們分開，否則就變成聯(lián)通線不是晶體管了。

質(zhì)量（Quality） 就是產(chǎn)品性能的測量，它回答了一個產(chǎn)品是否合乎規(guī)格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標(biāo)的問題；可靠性（Reliability）則是對產(chǎn)品耐久力的測量，它回答了一個產(chǎn)品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。所以說質(zhì)量（Quality）解決的是現(xiàn)階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。知道了兩者的區(qū)別，我們發(fā)現(xiàn)，Quality 的問題解決方法往往比較直接，設(shè)計和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來后，通過簡單的測試，就可以知道產(chǎn)品的性能是否達(dá)到SPEC 的要求，這種測試在IC的設(shè)計和制造單位就可以進(jìn)行。相對而言，Reliability 的問題似乎就變的十分棘手，這個產(chǎn)品能用多久，who knows? 誰會能保證今天產(chǎn)品能用，明天就一定能用？然而，在230℃~260℃的范圍中的無鉛工藝?yán)铮魏螡穸鹊拇嬖诙寄軌蛐纬勺銐驅(qū)е缕茐姆庋b的?。ū谆睿┗虿牧戏謱印榱私鉀Q這個問題，人們制定了各種各樣的標(biāo)準(zhǔn).