廣州勱博——粒度計數(shù)儀經(jīng)銷

進性與：Multisizer Series庫爾特計數(shù)及粒度分析儀用于美國NASA太空總署從月球上采集的土壤樣品的粒度分析及顆粒計數(shù)；LS Series 激光粒度儀用于美國NASA太空總署發(fā)射火星車的火箭i燃料成份的粒度控制的分析。產(chǎn)品已成為“高準確性”、“高分辨率”的代名詞，在用戶中享有盛譽。在粒度分析行業(yè)發(fā)展中一直發(fā)揮著深遠的影響力，更具有當之無愧的領(lǐng)導地位。

   儀器能實時準確地測量所在環(huán)境的微粒數(shù)量和分布，并進行各種測量參數(shù)設(shè)定，如自動實時顯示，粒徑選擇，定時、延i時和重復測量，平均測量。時間和日期設(shè)定、數(shù)據(jù)存儲和打印、計數(shù)超限報警等功能均由內(nèi)置微機控制和實現(xiàn)，可監(jiān)測激光粒子傳感器的工作狀態(tài)。

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平，升級版PIDS專利技術(shù)（專利號：4953978；5104221）、優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準確，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術(shù)，真正實現(xiàn)10nm粒徑測量；新型的干、濕進樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利。

廣泛適用于材料、化工、制藥、精細陶瓷、造紙、化妝品、冶金等行業(yè)以顆粒物作為生產(chǎn)原料或中間體的實驗室分析和工業(yè)生產(chǎn)中質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域。WJL激光粒度儀具有結(jié)構(gòu)緊湊、體積小巧，操作簡便等顯著特點，采用計算機自動控制運用Mie散射理論測量方法。

貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR主要特點優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標準符合FDA的21 CFR Part 11標準檢測器數(shù)量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應(yīng)高達136個真實數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準確的真實粒度測量。專利設(shè)計的“X”型對數(shù)排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，準確分析粒度分布。

僅需3mL樣品即可獲得完i美的 HIAC 計數(shù)結(jié)果可快速獲取結(jié)果提高了實驗室的處理時間，利用內(nèi)置的菜單驅(qū)動標準可在一分鐘內(nèi)處理樣品并報告顆粒數(shù)HIAC 無與i倫比的準確性、可靠性和售后服務(wù)。HIAC 8012 是業(yè)內(nèi)主力！HIAC 8012 液體顆粒計數(shù)器憑借業(yè)界內(nèi)堪稱的支持和服務(wù)水平， 以及超過25年的現(xiàn)場使用經(jīng)驗，成為行業(yè)內(nèi)的標準，其可靠性傲視全球。 符合 ISO 4406， NAS 1638 標準和用戶自定義測試標準 MTD、 ACFTD以及 ISO 11171 顆粒計數(shù)標準。

全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。升級版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量。PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

檢測精密度：集電子光學、電源電路、試品超聲波分散化、循環(huán)系統(tǒng)、清理集成化構(gòu)造，粒度計數(shù)儀多少錢，試品在管路內(nèi)的流動性速度快，防止了試品分散化后的層次和再次團圓。相對標準偏差、可靠性超過國外同類型儀器設(shè)備精i確測量水準，D50粒度相對標準偏差偏差超過1％測試標準：運動控制系統(tǒng)自動式實際操作，只需按1個鍵， 試品分散化池中會全自動漏水。