蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

三坐標(biāo)測(cè)頭

如果不事先定義和校準(zhǔn)測(cè)頭，軟件系統(tǒng)本身是無法獲知所使用的探針類型和測(cè)量的角度。測(cè)量得到的數(shù)據(jù)結(jié)果自然是不正確的。因此，必須要對(duì)所使用的測(cè)頭進(jìn)行校驗(yàn)，使得軟件知道所配置的探針情況，包括探針數(shù)量、方位、探針半徑及探針球心的相互位置關(guān)系。并且了解所使用探針的精度狀況，做到及時(shí)更換以確保實(shí)現(xiàn)測(cè)量的精度要求。

需要注意的事

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在測(cè)量零件時(shí)，是用探針的寶石球與被測(cè)零件表面接觸，接觸點(diǎn)與系統(tǒng)傳輸?shù)膶毷蛑行狞c(diǎn)的坐標(biāo)相差一個(gè)寶石球的半徑，需要通過校驗(yàn)得到的探針的實(shí)測(cè)半徑值，對(duì)測(cè)量結(jié)果補(bǔ)償修正。

在選擇三坐標(biāo)測(cè)頭的過程中，常常出現(xiàn)是由預(yù)算決定配置，從而導(dǎo)致配置過?；蛘吲渲貌蛔愕膶擂吻闆r。

配置三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭時(shí)，實(shí)際會(huì)面臨來自多個(gè)方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉(zhuǎn)式”、“掃描測(cè)頭還是觸發(fā)測(cè)頭”、“三軸聯(lián)動(dòng)還是五軸聯(lián)動(dòng)”、“接觸式測(cè)頭還是光學(xué)測(cè)頭”等等，而且還逃不開預(yù)算的限制。雖然后一項(xiàng)因素有時(shí)能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術(shù)角度了解各類測(cè)頭的特點(diǎn)及適用場(chǎng)合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測(cè)頭，滿足測(cè)量要求。

在得到了數(shù)字化表面模型后，用戶可以把數(shù)據(jù)用于各種目的，比如和CAD模型做對(duì)比，獲取零件整體/局部輪廓的偏差，三維尺寸測(cè)量或者逆向工程等等。但是這種測(cè)量方式用于尺寸與行為公差測(cè)量時(shí)，通常無法符合測(cè)量工藝流程的要求(如建立測(cè)量基準(zhǔn)、選擇元素?cái)M合方法、選取評(píng)價(jià)參考等等)。但是，有的零件或出于零件特殊性，如軟性材質(zhì)、不允許接觸的表面、微小特征等，或出于測(cè)量效率的要求，確實(shí)需要非接觸式測(cè)量。對(duì)于此類應(yīng)用，點(diǎn)光源測(cè)頭也很好彌補(bǔ)了接觸式測(cè)頭的不足。

光學(xué)測(cè)頭雖然有一些接觸式測(cè)頭無法提供的優(yōu)勢(shì)，但并無法完全替代接觸式測(cè)頭，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測(cè)頭。測(cè)球的各個(gè)部位都可以去接觸被測(cè)物體來采點(diǎn)，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要L型測(cè)針的場(chǎng)合，接觸式測(cè)頭比光學(xué)測(cè)頭更方便。

沒有好的測(cè)頭，究竟怎么選擇還是取決于測(cè)量需求。在繁多的測(cè)頭種類面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測(cè)頭，找到真正合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。