大塚電子（蘇州）有限公司主要銷(xiāo)售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車(chē)前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢(xún)！

　遮光比就是在使用激光粒度儀測(cè)試樣品時(shí)，配置的樣品懸浮液的濃度，遮光比的正確選擇是激光粒度儀在粒度測(cè)試過(guò)程中的一個(gè)重要的步驟，遮光比是否合適或者說(shuō)被測(cè)樣品的濃度是否合適嚴(yán)重關(guān)系到粒度測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和代表性。

激光粒徑儀提供快速、準(zhǔn)確、便捷的粒徑大小測(cè)試，界連電位測(cè)試以及分子量的測(cè)試。 該分析儀可在0.3nm-10μm粒度范圍內(nèi)進(jìn)行粒徑測(cè)量，-200到200mV間進(jìn)行界達(dá)電位測(cè)量。

激光粒度分析儀原理光在傳播中，波前受到與波長(zhǎng)尺度相當(dāng)?shù)南犊谆蝾w粒的限制，以受限波前處各元波為源的發(fā)射在空間干涉而產(chǎn)生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間（角度）分布與光波波長(zhǎng)和隙孔或顆粒的尺度有關(guān)。