大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

顆粒大小與激光粒度分析儀

激光粒度分析儀

　　儀器分類

　　?靜態(tài)激光

　　能譜是穩(wěn)定的空間分布。主要適用于微米級顆粒的測試，經(jīng)過改進也可將測量下限擴展到幾十納米。

　　?動態(tài)激光

　　根據(jù)顆粒布朗運動的快慢，通過檢測某一個或二個散射角的動態(tài)光散射信號分析納米顆粒大小，能譜是隨時間高速變化。動態(tài)光散射原理的粒度儀僅適用于納米級顆粒的測試。

粒徑儀應用

l 納米生物，醫(yī)i藥領域

l 納米材料，新機能性材料領域

l 食品，化妝品領域

l 高分子，化學工業(yè)領域

l 精密陶瓷，顏料工業(yè)領域

l 半導體領域

l 通過i新型的高感度APD提高感光度，成功的縮短測試時間

l 搭載自動溫度梯度測量功能，可分析變性，相變溫度。

l 可測量0~90攝氏度寬闊的溫度范圍

l 增加了大范圍分子量測定及解析功能

l 可測量懸濁的高濃度樣本粒徑，界達電位

l 對應小尺寸樣本平板界達電位測量