此設(shè)備可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

ZETA電位測(cè)量原理：電氣泳動(dòng)光散射法

對(duì)溶液中的粒子施加電場(chǎng)，便可觀測(cè)到粒子所帶電荷的電氣泳動(dòng)。因此，可從此電氣泳動(dòng)速度中求出ZETA電位?電氣泳動(dòng)移動(dòng)度。

電氣泳動(dòng)光散射法，是用光照射做電氣泳動(dòng)的粒子，根據(jù)所得到的散射光的多i普勒轉(zhuǎn)換量求電氣泳動(dòng)度。因此，也被稱作激光多i普勒法。

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高濃度類樣品的ZETA電位測(cè)量原理

因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測(cè)量光難以透過(guò)的濃厚樣品或有色樣品的。

現(xiàn)在，ELSZseries的標(biāo)準(zhǔn)cell可對(duì)應(yīng)低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測(cè)量。并且，通過(guò)采用了FST法*的高濃度類cell，可測(cè)量出高濃度樣品的ZETA電位。

適用于界面化學(xué)、無(wú)機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、藥學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究。

新功能性材料領(lǐng)域

燃料電池相關(guān)（碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬）

生物納米相關(guān)（納米、人造分子、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡等

用途：

半導(dǎo)體領(lǐng)域

查明附著在硅體晶圓的異物的結(jié)構(gòu)

研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究

CMP懸濁液