低本底測量儀主要技術指標

主要技術指標

儀器對于90Sr-90Yβ源（活性區(qū)Φ20mm）的2π探測效率比≥50％時， 本底≤0.15cm-2min-1；

儀器對于241Amα源（活性區(qū)Φ25mm）的2π探測效率比≥80％時， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α進入β道的計數(shù)比＜3％（對241Am）， β進入α道的計數(shù)比＜0.5％（對于90Sr-90Y）；

長期穩(wěn)定性

重復性：儀器連續(xù)通電8小時，探測效率變化＜±10％；

本底穩(wěn)定性：在8小時的測量時間內，本底計數(shù)變化應在(Nb±3σ)的范圍內,其中Nb為本底計數(shù)的平均值，σ為本底計數(shù)的標準誤差。

儀器靈敏度：α≥5×10-3Bq；β≥1×10-2Bq

耐壓絕緣度＞1500V；

絕緣電阻≥2MΩ；

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