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低本底的探測(cè)原理
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探測(cè)原理:探測(cè)器頂端的閃爍體是由α閃爍物質(zhì)和β閃爍物質(zhì)壓制在的有機(jī)玻璃板上。由于α粒子和β射線(xiàn)進(jìn)入閃爍物質(zhì)時(shí)后,將全部能量損失在閃爍物質(zhì)上,引起閃爍發(fā)光,閃爍光子被光電倍增管接收并轉(zhuǎn)換產(chǎn)生電信號(hào)。電信號(hào)進(jìn)入電子線(xiàn)路,轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào),被記錄。每一個(gè)α粒子撞擊閃爍體后產(chǎn)生的光信號(hào)進(jìn)入電子線(xiàn)路整合后在顯示器上被記錄成一個(gè)計(jì)數(shù)。所以低本底αβ測(cè)量?jī)x也被通俗叫做低本底αβ計(jì)數(shù)器。外形尺寸和重量單路:(500×400×900)mm約500kg二路:(605×541×1244)mm約650kg四路:(605×541×1244)mm約800kg。計(jì)數(shù)率與樣品中核素活度(發(fā)射的αβ粒子數(shù)量)成正比。
低本底介紹
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性能穩(wěn)定、設(shè)計(jì)緊湊,使用操作方便。以大面積薄窗流氣式正比計(jì)數(shù)管為探測(cè)器(?60mm),用專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的屏蔽計(jì)數(shù)管與測(cè)量計(jì)數(shù)管進(jìn)行反符合,以降低周?chē)h(huán)境放射性對(duì)測(cè)量的干擾。用精選“老鉛”作成厚鉛室屏蔽外來(lái)輻射。因此,該儀器檢測(cè)靈敏度高、本底低。能量響應(yīng)好,對(duì)14C低能β射線(xiàn)的探測(cè)效率≥40%。優(yōu)于半導(dǎo)體、閃爍體為探頭的同類(lèi)檢測(cè)儀。采用計(jì)算機(jī)數(shù)控操作,不外設(shè)開(kāi)關(guān)旋鈕。低本底αβ測(cè)量?jī)x之有關(guān)氣體檢測(cè)儀的選擇固定式氣體檢測(cè)儀:這是在工業(yè)裝置上和生產(chǎn)過(guò)程中使用較多的檢測(cè)儀。通過(guò)程序控制可以自行檢測(cè)計(jì)數(shù)管的坪特性,設(shè)定計(jì)數(shù)管的工作點(diǎn),自行檢測(cè)儀器本底計(jì)數(shù)率,并在對(duì)樣品的檢測(cè)時(shí)自行扣除本底計(jì)數(shù),對(duì)結(jié)果進(jìn)行修正。結(jié)合使用標(biāo)準(zhǔn)源,可以自行校準(zhǔn)儀器的探測(cè)效率。自動(dòng)處理檢測(cè)結(jié)果??梢灾苯拥玫奖粶y(cè)樣品的放射性比活度Bq/L或Bq/Kg等。
低本底環(huán)境γ譜儀簡(jiǎn)介
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BH1324F型低本底環(huán)境γ譜儀主要競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手涉及主要從事生產(chǎn)輻射儀器儀表的國(guó)外企業(yè)和國(guó)內(nèi)私營(yíng)企業(yè),例如:美國(guó)Mirion Technologies(子品牌 Canberra)、美國(guó)Ametek(子品牌 ORTEC)、湖北方圓環(huán)保科技有限公司、北京高能科迪科技有限公司,整體市場(chǎng)占有率超過(guò)95%。目前測(cè)量方法相對(duì)成熟,近年測(cè)量方法上沒(méi)有更新,沒(méi)有新測(cè)量方法產(chǎn)品上市,各公司也是針對(duì)操作平臺(tái)進(jìn)行更新改進(jìn)。儀器分為單路、二路、四路三種配置,符合GB/T11682-2008國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求2。