鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測器

像素數(shù)：3648 46 全行業(yè)較高

像素尺寸：8μm 全行業(yè)較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬級超凈環(huán)境下打造較優(yōu)光學系統(tǒng)

帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學系統(tǒng)，無像差，分辨率均勻

高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)較高

線分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統(tǒng)，再啟動耗時行業(yè)較低

潮汐式?jīng)_洗方式，冷機（關(guān)機 12 小時）啟動只需 30min，熱機啟動時間 5min

智能判斷分析間隔時間，合理補充氣，降低氣消耗

60ml/min 超低待機流量，一瓶氣 24 小時待機 70 天

分片式曝光，痕量元素識別強度大幅提高，檢出限更低

一次激發(fā)，分片曝光，同時采集，同時回數(shù)

獨立控制不同 CCD 的積分曝光時間

提升痕量元素的強度，降低儀器的檢出限

隨波段調(diào)節(jié)積分時間，提升儀器的 穩(wěn)定性

多道光譜儀的主要特點

1）多采用PMT檢測器，具有噪聲低、動態(tài)范圍大的優(yōu)點，特別適合高純金屬的分析；

2）數(shù)據(jù)讀出速度快，可實現(xiàn)光譜時域解析（TRS）、單火花評估等功能，從而滿足酸溶物和夾雜物等特殊分析需求；

3）定制化生產(chǎn)，通道選擇出廠前已配置完成，升級困難。

4）受到PMT體積和安裝空間的限制，元素配置的通道有限，在分析不同含量范圍和基體種類的樣品時，往往采用同一分析譜線，不能實現(xiàn)較佳的分析效果；

直讀光譜儀其它因素影響    

光電光譜檢測分析存在的誤差在所難免，要正確的認識誤差，查找誤差存在的原因，采取有效的措施消除誤差。光譜檢測分析誤差除受上面幾種因素的影響外，還有以下幾種因素的影響：

1.人的因素：    操作者的質(zhì)量意識、責任意識、操作技術(shù)、水平高低、熟練程度等都會影響檢測的效果；

2.設(shè)備因素：    比如設(shè)備的狀態(tài)是否優(yōu)良、是否定期檢測和維護，光源性能穩(wěn)定性如何，氬氣供氣系統(tǒng)是否穩(wěn)定，試樣加工設(shè)備狀況是否正常、是否對加工設(shè)備進行定期維護保養(yǎng)等，都會一定程度上影響檢測結(jié)果的準確性。

3.樣品試樣因素：比如待測試樣成分是否均勻，是否具有試樣的代表性，熱處理狀態(tài)和組織結(jié)構(gòu)狀態(tài)是否正常，標準試樣的成分和控制試樣的成分是否均勻，成分含量的標準值是否可靠，組織結(jié)構(gòu)是否統(tǒng)一、磨制樣品方法是否規(guī)范、效果是否有效等等，都是影響其檢測效果的關(guān)鍵因素。

4.分析方法因素：在分析方法上，分析曲線制作及擬合程度是否達標，標準化過程及效果是否，控樣選擇是否規(guī)范，定值是否嚴格等等，都一定程度上影響著檢測效果。

5.環(huán)境因素：比如檢測所在分析室的溫度、濕度是否正常，受否受電磁干擾的影響，所處環(huán)境是否清潔衛(wèi)生，是否具備檢測要求的條件穩(wěn)定的操作環(huán)境，只有有了良好的檢測環(huán)境，才能為檢測結(jié)果的準確性提供保障。

直讀光譜儀

光電直讀光譜儀法雖然不受感光板限制，但工作曲線繪制成后，經(jīng)過一段時間曲線也會變動。例如：透鏡的污染、對電極的玷污、溫濕度的變化、氣的影響、電源的波動等，均能使曲線發(fā)生變化。原始曲線圖中A的位置，經(jīng)過一段時間后，曲線可能漂移到B的位置．為了使用曲線進行分析必須設(shè)法將曲線B恢復到曲線A的位置．為此必須對工作曲線進行標準化。在進行曲線標準化必須注意以下幾點：

(1)在清洗樣品激發(fā)臺后必須先激發(fā)10次以上或通氣一個小時后才能做日常標準化工作。

(2)標準化的樣品要均勻，制樣要仔細，樣品的表面平整，紋路清淅。分析間隙準確，樣品架保持清潔。

(3)標準化頻率是根據(jù)分析樣品的多少來定，一般情況一天必須標準化兩次。