x射線的特點(diǎn)

作為無損檢測(cè)五大常規(guī)之一的射線檢測(cè)技術(shù)是目前工業(yè)上應(yīng)用廣泛的無損檢測(cè)技術(shù)。它根據(jù)被檢工件的成分、密度、厚度的不同，而對(duì)射線產(chǎn)生不同的吸收或者散射的特性，從而得到被檢工件的質(zhì)量、尺寸、特性的判斷。

一、射線檢測(cè)技術(shù)分類

目前，射線檢測(cè)技術(shù)大致可以分為：射線照相檢測(cè)技術(shù)、射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)、射線層析檢測(cè)技術(shù)以及其他。如果對(duì)以上的三種射線檢測(cè)技術(shù)細(xì)分，還可以分為：

1.射線照相檢測(cè)技術(shù)：

X射線照相檢測(cè)、γ射線照相檢測(cè)、中子射線照相檢測(cè)、電子射線照相檢測(cè)、成像板射線照相檢測(cè)、相紙射線照相檢測(cè)等等。

2.射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)：

X射線熒光實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、X射線光導(dǎo)攝像實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、數(shù)字實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、圖像增強(qiáng)實(shí)時(shí)成像檢測(cè)。

3.射線層析檢測(cè)技術(shù)：

膠片層析射線照相技術(shù)、射線層析檢測(cè)、康普頓散射成像檢測(cè)。

二、射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用：

射線檢測(cè)技術(shù)可以分為以下四種應(yīng)用類型。

1.質(zhì)量檢測(cè)：可用于鑄造、焊接工藝缺陷檢測(cè)。

2.測(cè)量厚度：可用于在線、實(shí)時(shí)、非接觸厚度測(cè)量。

3.物品檢查：可用于機(jī)場(chǎng)、車站、海關(guān)檢查，對(duì)結(jié)構(gòu)、尺寸測(cè)定。

4.動(dòng)態(tài)研究：可用于彈道、、核技術(shù)、鑄造工藝等動(dòng)態(tài)過程研究。

三、射線檢測(cè)技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)

1.射線檢測(cè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn)

①被測(cè)結(jié)果可以直觀顯示

②測(cè)量結(jié)果可以長期保存

③適用于各種材料的檢測(cè)，金屬材料、非金屬材料、復(fù)合材料均可以檢測(cè)。

④適合檢驗(yàn)體積缺陷，即具有一定空間分布的缺陷，或者具有一定厚度的缺陷。

2.射線檢測(cè)技術(shù)缺點(diǎn)：

①檢驗(yàn)成本較高。

②對(duì)裂紋類型缺陷有方向性的限制。

③必須考慮安全防護(hù)。

光譜分析法

光譜分析法

光譜分析法是根據(jù)物質(zhì)的光譜來鑒別物質(zhì)及確定其化學(xué)組成 和相對(duì)含量的方法，是以分子和原子的光譜 學(xué)為基礎(chǔ)建立起的分析方法。包含三個(gè)主要 過程：①能源提供能量；②能量與被測(cè)物質(zhì) 相互作用；③產(chǎn)生被檢測(cè)訊號(hào)。光譜法分類 很多，用物質(zhì)粒子對(duì)光的吸收現(xiàn)象而建立起的 分析方法稱為吸收光譜法，如紫外-可見吸收 光譜法、紅外吸收光譜法和原子吸收光譜法 等。利用發(fā)射現(xiàn)象建立起的分析方法稱為發(fā)射 光譜法，如原子發(fā)射光譜法和熒光發(fā)射光譜法 等。以下是磁粉探傷的常見操作步驟：步：預(yù)清洗所有材料和試件的表面應(yīng)無油脂及其他可能影響磁粉正常分布、影響磁粉堆積物的密集度、特性以及清晰度的雜質(zhì)。由于不同物質(zhì)的原子、離子和分子的能級(jí) 分布是特征的，則吸收光子和發(fā)射光子的能量也是特征的。以光的波長或波數(shù)為橫坐標(biāo)，以 物質(zhì)對(duì)不同波長光的吸收或發(fā)射的強(qiáng)度為縱坐 標(biāo)所描繪的圖像，稱為吸收光譜或發(fā)射光譜。

可利用物質(zhì)在不同光譜分析法的特征光譜對(duì)其 進(jìn)行定性分析，根據(jù)光譜強(qiáng)度進(jìn)行定量分析。

什么是近表面缺陷

近表面缺陷的檢測(cè)在無損檢測(cè)中是一個(gè)傳統(tǒng)而典型的研究課題。

近表面缺陷的檢測(cè)方法很多，比如，脈沖超聲波反射法、磁粉探傷法、渦流檢測(cè)方法、磁記憶檢測(cè)法、漏磁檢測(cè)法、磁懸液檢測(cè)法、爬波檢測(cè)法、表面波檢測(cè)法及熱像圖法等。這些方法一般都有各自的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試環(huán)境要求，沒有一種可用于任何測(cè)試場(chǎng)合的通用方法。這也是多種方法并存的原因。在脈沖超聲反射檢測(cè)法中，靠近介質(zhì)界面的缺陷被淹沒在回波信號(hào)中，很難有效分離，導(dǎo)致測(cè)量盲區(qū)的存在。(2)影像形成原理影像形成的基本原理，是由于特性和零件的致密度與厚度之差異所致。從信號(hào)時(shí)域的角度考慮，就是信號(hào)在時(shí)域的到達(dá)時(shí)刻比較接近，一個(gè)信號(hào)還沒有結(jié)束，而另一個(gè)信號(hào)已經(jīng)到達(dá)。在缺陷的超聲檢測(cè)中，出現(xiàn)這種現(xiàn)象主要有以下兩種情況。種情況是，傳感器發(fā)射的脈沖超聲波耦合到接收電路產(chǎn)生的信號(hào)還沒有結(jié)束，近表面缺陷的超聲回波就已到達(dá)。這時(shí)，放大電路尚未正常工作，使缺陷回波信號(hào)變小，且兩信號(hào)混疊在一起，導(dǎo)致近表面缺陷無法檢出。

磁粉探頭的安全操作要求？

答：1、當(dāng)工件直接通過電磁化時(shí)，要注意夾頭間的接觸不良、或用了太大的磁化電流引起打弧閃光，應(yīng)戴防護(hù)眼鏡，同時(shí)不應(yīng)在有可能燃?xì)怏w的場(chǎng)合使用；超聲檢測(cè)適用范圍超聲檢測(cè)適用范圍很廣，從檢測(cè)對(duì)象的材料來說，可適用于各種金屬和非金屬材料。2、在連續(xù)使用濕法磁懸液時(shí)，皮膚上可涂防護(hù)膏；3、如用于水磁懸液，設(shè)備 須接地良好，以防觸電；4、在用繭火磁粉時(shí)，所用紫外線必須經(jīng)濾光器，以保護(hù)眼睛和皮膚。

磁粉探傷中為什么要使用靈敏試片？

答：使用靈敏試片目的在于檢驗(yàn)磁粉和磁懸液的性能和連續(xù)法中確定試件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向以及操作方法是否正確等綜合因素。

著色（滲透）探傷的基本原理是什么？

答：著色（滲透）探傷的基本原理是利用毛細(xì)現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷，經(jīng)清洗使表面滲透液支除，而缺陷中的滲透殘瘤，再利用顯像劑的毛細(xì)管作用吸附出缺陷中殘瘤滲透液而達(dá)到檢驗(yàn)缺陷的目的。