貼片電容爆漿的原因分析

貼片電容爆漿的原因有很多，比如電流大于允許的穩(wěn)波電流、使用電壓超出工作電壓、逆向電壓、頻繁的充放電等。但是直接的原因就是高溫。我們知道貼片電容有一個重要的參數(shù)就是耐溫值，指的就是貼片電容內(nèi)部電解液的沸點。

當(dāng)貼片電容的內(nèi)部溫度達(dá)到電解液的沸點時，電解液開始沸騰，貼片電容內(nèi)部的壓力升高，當(dāng)壓力超過泄爆口的承受極限就發(fā)生了爆漿。所以說溫度是導(dǎo)致電容爆漿的直接原因。電容設(shè)計使用壽命大約為2萬小時，受環(huán)境溫度的影響也很大。電容的使用壽命隨溫度的增加而減小，實驗證明環(huán)境溫度每升高10℃，電容的壽命就會減半。

主要原因就是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時間退化失效，這樣電容壽命終結(jié)。為了保證電容的穩(wěn)定性，電容在插板前要經(jīng)過長時間的高溫環(huán)境的測試。即使是在100℃，的電容也可以工作幾千個小時。同時，我們提到的電容的壽命是指電容在使用過程中，電容容量不會超過標(biāo)準(zhǔn)范圍變化的10%。電容壽命指的是電容容量的問題，而不是設(shè)計壽命到達(dá)之后就發(fā)生爆漿。只是無法保證電容的設(shè)計的容量標(biāo)準(zhǔn)。

村田貼片電容的基本介紹

貼片電容介質(zhì)是以COG/NPO為I類介質(zhì)的高頻電容器，其溫度系數(shù)為±30ppm/℃，電容量非常穩(wěn)定，幾乎不隨溫度、電壓和時間的變化而變化，主要應(yīng)用于 高頻電子線路，如振蕩、計時電路等;其容量精度主要為±5，以及在容量低于10pF時，可選用B檔（±0.1pF）、C檔（±0.25pF）、D檔 （±0.5pF）三種精度。

以X7R為II類介質(zhì)的中頻電容器，其溫度系數(shù)為±15，電容量相對穩(wěn)定，適用于各種旁路、耦合、濾波電路等，其容量精度主要為K檔（±10）。特殊情況下，可提供J檔（±5）精度的產(chǎn)品。

不同品種的電容器，使用頻率不同。小型云母電容器在250MHZ以內(nèi);圓片型瓷介電容器為300MHZ;圓管型瓷介電容器為200MHZ;圓盤型瓷介可達(dá)3000MHZ;小型紙介電容器為80MHZ;中型紙介電容器只有8MHZ。

以Y5V為III類介質(zhì)的低頻電容器，其溫度系數(shù)為： 30～-80，電容量受溫度、電壓、時間變化較大，一般只適用于各種濾波電路中。其容量精度主要為Z檔（ 80～-20），也可選擇±20精度的產(chǎn)品。

貼片電容介質(zhì)強(qiáng)度表征的是介質(zhì)材料承受高強(qiáng)度電場作用而不被電穿的能力，通常用伏特/密爾（V/mil）或伏特/厘米（V/cm）表示. 當(dāng)外電場強(qiáng)度達(dá)到某一臨界值時，材料晶體點陣中的電子克服電荷恢復(fù)力的束縛并出現(xiàn)場致電子發(fā)射，產(chǎn)生出足夠多的自由電子相互碰撞導(dǎo)致雪崩效應(yīng)。

進(jìn)而導(dǎo)致突發(fā)擊穿電流擊穿介質(zhì)，使其失效.除此之外，介質(zhì)失效還有另一種模式，高壓負(fù)荷下產(chǎn)生的熱量會使介質(zhì)材料的電阻率降低到某一程度，如果在這個程度上延續(xù)足夠長的時間，將會在介質(zhì)薄弱的部位上產(chǎn)生漏電流.這種模式與溫度密切相關(guān)，介質(zhì)強(qiáng)度隨溫度提高而下降。

村田貼片電容好壞的檢測方法

貼片電容可以用以下方法判斷好壞：

1、一般小貼片電容的阻值為無窮大，阻值異常就更換。容量變小，萬用表無法測量，直接替換。

2、安全一點的辦法用萬用表的二極檔一針接地另一針分別測電容的兩端兩端響說明短路。

3、貼片電容短路的話用萬用表在線測量就能判斷出來。如果是開路的話，因為容量太小，用萬用表量不出來，可以用一個電筆接到220V的火線上，將貼片電容的引腳放到電筆的筆帽上，看氦泡是否發(fā)光，發(fā)光電容是好的,否則斷路。220v電壓，可千萬別在板實驗。

4、阻值無窮大，阻值為零鳴叫為壞，其他的應(yīng)該有一些小的變化。