一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

 測(cè)量注意事項(xiàng)：1.測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

2.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些？測(cè)厚儀在使用過(guò)程中，如果操作不規(guī)范，很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問(wèn)題，因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見問(wèn)題的處理方法：

四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管；

2、應(yīng)有妥善的保管場(chǎng)所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區(qū)一米遠(yuǎn)）；

3、長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)放置保管場(chǎng)所；

4、衛(wèi)生

5、應(yīng)定期清理主機(jī)和探頭外表面，對(duì)源鉛罐上表面也要定期清理。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

     影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過(guò)程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對(duì)影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

   (1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是luo露的、光滑的。

一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

儀器規(guī)格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

儀器重量 ：55kg

供電電源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測(cè)厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測(cè)厚儀的分類，也就是說(shuō)測(cè)厚儀是膜厚儀的上司一樣，對(duì)此我們也可以來(lái)了解下測(cè)厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測(cè)厚儀按原理分類:激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、壓力測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀。

測(cè)厚儀的原理：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。在線測(cè)厚儀是指在測(cè)厚過(guò)程中將測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)的顯示給使用者或者控制系統(tǒng)，以便使用者或者控制系統(tǒng)能夠及時(shí)的對(duì)異常數(shù)據(jù)作出反應(yīng)，為自動(dòng)化生產(chǎn)一個(gè)重要環(huán)節(jié)。