芯片檢測(cè)顯微鏡——廠家介紹

老上光儀器廠擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)，在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)，不斷地開發(fā)出能滿足生物、科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。

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芯片檢測(cè)顯微鏡——芯片檢測(cè)

倒裝芯片封裝的不良狀況無(wú)損分析

在倒裝芯片的焊接中，組裝后的焊接部分和模塊無(wú)法用可見(jiàn)光檢查。但是如果使用近紅外線顯微鏡，則可以在不破壞封裝的前提下，透過(guò)硅觀察IC芯片內(nèi)部。只要置于顯微鏡下，就可以輕松進(jìn)行不良狀況分析。對(duì)必需用FIB（Focused Ion Beam）處理位置的也很有效。

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芯片檢測(cè)顯微鏡的適用范圍

芯片檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)不透明物體的進(jìn)行顯微觀察。配置大移動(dòng)范圍的機(jī)械式載物臺(tái)、落射照明器、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點(diǎn)，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。

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芯片檢測(cè)顯微鏡的特點(diǎn)

以下內(nèi)容由老上光儀器廠為您提供，今天我們來(lái)分享芯片檢測(cè)顯微鏡的相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助！

1. 配置大視野目鏡和長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片)，視場(chǎng)大而清晰。

2. 配置大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)，能快速和慢速移動(dòng)。

3. 粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗動(dòng)松緊可調(diào)，帶鎖緊和限位裝置，微動(dòng)格值:2μm。

4. 可調(diào)亮度的鹵素?zé)簟?

5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進(jìn)行100%透光攝影。