一鍵閃測(cè)儀的應(yīng)用和特點(diǎn)：

一鍵閃測(cè)儀行業(yè)應(yīng)用

    廣泛應(yīng)用于機(jī)械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機(jī)、家電、印刷電路板、鐘表、刀具等尺寸較小的產(chǎn)品及零部件的批量快速測(cè)量。

一鍵閃測(cè)儀特點(diǎn)

    一鍵閃測(cè)儀采用高等高景深、低畸變、雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡頭，亞像素、較小二乘法回歸處理算法及高規(guī)格影像面補(bǔ)償方式等先進(jìn)的圖像處理算法，使得設(shè)備具有：

測(cè)量精度高：

    在測(cè)量時(shí)還原真實(shí)尺寸，對(duì)所有產(chǎn)品，即使存在高度差、弧度等不易測(cè)因素的，都能保證測(cè)量及重復(fù)測(cè)量的。

的批量測(cè)量

    無(wú)需夾具、無(wú)需定位、產(chǎn)品任意擺放，軟件自動(dòng)檢測(cè)位置和方向、及坐標(biāo)原點(diǎn)并重復(fù)測(cè)量；只需短短2~5秒便可測(cè)量幾十處，測(cè)量范圍內(nèi)一次性可較大測(cè)量99處。

整體成像、一鍵閃測(cè)

    減少試樣固定、擺放、校位、對(duì)焦、調(diào)光、運(yùn)動(dòng)控制，無(wú)需移動(dòng)測(cè)試平臺(tái)，一鍵閃測(cè)儀可對(duì)較大成像范圍內(nèi)的產(chǎn)品整體成像、自動(dòng)測(cè)量，一次性地完成多個(gè)尺寸的測(cè)量，從而大幅提升工作效率、節(jié)約時(shí)間和生產(chǎn)成本。

專業(yè)數(shù)據(jù)報(bào)告

    自動(dòng)記錄和輸出測(cè)量值到WORD、EXCEL、TXT文檔，可設(shè)置公差，測(cè)量結(jié)果超出公差自動(dòng)報(bào)警提示，并可對(duì)結(jié)果進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)和分析后輸出報(bào)表，使測(cè)試及分析數(shù)據(jù)變得很簡(jiǎn)單。

一鍵閃測(cè)儀的特點(diǎn)：

1、有效消除人為誤差：

　　1、測(cè)試人員不熟悉軟件和機(jī)器，造成測(cè)量方式誤差；

　　2、自動(dòng)記憶和儲(chǔ)存測(cè)量方式、取點(diǎn)位置，自動(dòng)擺正測(cè)試方向，且自動(dòng)執(zhí)行，有效消除人為誤差；

　　3、測(cè)試人員心態(tài)變化，易造成測(cè)量精度和穩(wěn)定性偏差；

　　4、雙側(cè)遠(yuǎn)芯鏡頭，工作距離大，允許試樣存在一定的高度差，無(wú)需重復(fù)聚焦；

　　5、不同測(cè)試人員因操作習(xí)慣、聚焦與取點(diǎn)方式、照明光線強(qiáng)度等方面差異，造成測(cè)量數(shù)據(jù)有偏差；

2、高等雙側(cè)遠(yuǎn)心低畸變鏡頭，測(cè)量精度高

　　1、采用雙側(cè)遠(yuǎn)芯鏡頭、解決試樣存在高度差、截面有斜度或弧度等不易測(cè)量因素；

　　2、采用高景深、低畸變鏡頭，無(wú)需擔(dān)心試樣擺放位置和焦距模糊，還原產(chǎn)品真實(shí)尺寸，測(cè)量精度高；

3、整體成像，瞬間測(cè)量所有尺寸且精度高

　　1、傳統(tǒng)測(cè)量?jī)x器視野窄，一次只能測(cè)量一處，需邊移動(dòng)工作臺(tái)邊定位、測(cè)量；

　　2、重復(fù)步驟多、費(fèi)時(shí)、操作繁瑣；

　　3、且需要考慮配套硬件精度，如光柵尺、工作臺(tái)裝配精度等。

一鍵式測(cè)量?jī)x與投影儀有哪些區(qū)別？

        近幾十年不僅僅是我們，乃至全世界都能感受到中國(guó)制造的產(chǎn)品質(zhì)量與效率都有質(zhì)的飛躍。產(chǎn)品質(zhì)量和效率的提升離不開(kāi)生產(chǎn)設(shè)備和生產(chǎn)規(guī)范的管理，在管理過(guò)程中，對(duì)半成品、成品的合格率檢測(cè)是必不可少的，以機(jī)械零件加工為例，在加工完一個(gè)機(jī)械零件后，我們對(duì)該機(jī)械零件的二維尺寸參數(shù)并不是很確定。這時(shí)，我們就需要通過(guò)檢測(cè)手段，來(lái)獲取機(jī)械零件的二維尺寸參數(shù)。傳統(tǒng)的檢測(cè)手段有投影儀、卡尺等，隨著技術(shù)的進(jìn)步，的一鍵式測(cè)量?jī)x逐步替代傳統(tǒng)檢測(cè)手段，成為新的測(cè)量解決方案。

       兩者在測(cè)量精度、測(cè)量效率、儀器體積上都有區(qū)別。