芯片檢測顯微鏡的應(yīng)用特點(diǎn)

老上光儀器廠——專業(yè)芯片檢測顯微鏡供應(yīng)商，我們?yōu)槟鷰硪韵滦畔ⅰ?/span>

集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對芯片產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。

芯片檢測顯微鏡的適用范圍

芯片檢測顯微鏡適用于對不透明物體的進(jìn)行顯微觀察。配置大移動范圍的機(jī)械式載物臺、落射照明器、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點(diǎn)，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。

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