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南通鍍層膜厚儀性價(jià)比高「在線咨詢」

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發(fā)布時(shí)間:2020-07-27 20:25  







江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器  X熒光光譜測厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點(diǎn)

     1.鍍層分析快速、無損,對樣品無需任何處理。一般測試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10S-1分鐘,分析精度高。

     2.可測試超薄的鍍層。

     3.可測試多鍍層,分析精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測量方法。

     4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定,選擇合適的對比分析樣品,就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。

     5.對于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測量,適合分析鍍層的厚度分布情況,并可以對樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測量。

     6.對分析的多鍍層每層之間的材料,要求有明顯的區(qū)別

     7.不可以測試超厚樣品,普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

     8.可以對樣品進(jìn)行測試

     9.屬于對比分析儀器,測試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣


江蘇一六儀器   X熒光鍍層測厚儀  一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系!

1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材,標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護(hù)裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器,程序交換控制多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4測量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm聚焦距離時(shí),測量斑點(diǎn)尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時(shí),測量斑點(diǎn)尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

5X射線探測系統(tǒng)封氣正比計(jì)數(shù)器裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號處理電路

6樣品室CMI900CMI950-樣品室結(jié)構(gòu)開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動(dòng)范圍標(biāo)準(zhǔn):152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動(dòng)高度43.18mmXYZ程控時(shí),152.4mmXY軸手動(dòng)時(shí),269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制


   江蘇一六儀器有限公司  專業(yè)鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢! 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時(shí)完成組分和厚度測試,厚度的測量范圍視材料和元素而定,通常在1nm-50um之間。005umX射線熒光光譜測厚儀X射線的產(chǎn)生X射線波長略大于0。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較,被測元素的特征X射線熒光強(qiáng)度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關(guān),而且與厚度直接相關(guān)。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法,具有無需對樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速,方便,測量成本低等明顯優(yōu)勢,特別適合用于各類相關(guān)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。是目前應(yīng)用為廣泛,具有速度快、無損化以及可實(shí)現(xiàn)多鍍層同時(shí)分析等特點(diǎn)。


江蘇一六儀器  專業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

雙鍍層:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。

三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。

2.  鍍層層數(shù):多至 5 層。

3. 測量點(diǎn)尺寸:圓形測量點(diǎn),直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測量時(shí)間:通常 30 秒。

5. 測量誤差:通常小于 5%,視樣品具體情況而定。

6. 可測厚度范圍:通常 0.01 微米到 30 微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。



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