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紅外熱像儀的優(yōu)點(diǎn)原理及其使用的系統(tǒng)介紹
與傳統(tǒng)的測(cè)溫方式(如熱電偶、不同熔點(diǎn)的蠟片等放置在被測(cè)物表面或體內(nèi))相比,紅外熱像儀可在一定距離內(nèi)實(shí)時(shí)、定量、在線(xiàn)檢測(cè)發(fā)熱點(diǎn)的溫度,通過(guò)掃描,還可以繪出設(shè)備在運(yùn)行中的溫度梯度熱像圖,而且靈敏度高,不受電磁場(chǎng)干擾,便于現(xiàn)場(chǎng)使用。它可以在-20℃~2000℃的寬量程內(nèi)以0.05℃的高分辨率檢測(cè)電氣設(shè)備的熱致故障(根據(jù)致熱效應(yīng),通過(guò)專(zhuān)用設(shè)備獲取從設(shè)備表面發(fā)出的紅外輻射信息,進(jìn)而判斷設(shè)備狀況和缺陷性質(zhì))揭示出如導(dǎo)線(xiàn)接頭或線(xiàn)夾發(fā)熱,以及電氣設(shè)備中的局部過(guò)熱點(diǎn)等等。紅外測(cè)溫儀的使用要點(diǎn)五確定響應(yīng)時(shí)間響應(yīng)時(shí)間表示紅外測(cè)溫儀對(duì)被測(cè)溫度變化的反應(yīng)速度,定義為到達(dá)最后讀數(shù)的95%能量所需要時(shí)間,它與光電探測(cè)器、信號(hào)處理電路及顯示系統(tǒng)的時(shí)間常數(shù)有關(guān)。
紅外熱像儀一般分光機(jī)掃描成像系統(tǒng)和非掃描成像系統(tǒng)。光機(jī)掃描成像系統(tǒng)采用單元或多元(元數(shù)有8、10、16、23、48、55、60、120、180甚至更多)光電導(dǎo)或光伏紅外探測(cè)器,用單元探測(cè)器時(shí)速度慢,主要是幀幅響應(yīng)的時(shí)間不夠快,多元陣列探測(cè)器可做成高速實(shí)時(shí)熱像儀。非掃描成像的熱像儀,如新一代的焦平面陣列式凝視成像的焦平面熱像儀,在性能上大大優(yōu)于光機(jī)掃描式熱像儀,有逐步取代光機(jī)掃描式熱像儀的趨勢(shì)?,F(xiàn)場(chǎng)測(cè)溫時(shí)只需對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)攝取圖像,并將上述信息存儲(chǔ)到機(jī)內(nèi)的PC卡上,即完成全部操作,各種參數(shù)的設(shè)定可回到室內(nèi)用軟件進(jìn)行修改和分析數(shù)據(jù),直接得出檢測(cè)報(bào)告,由于技術(shù)的改進(jìn)和結(jié)構(gòu)的改變,取代了復(fù)雜的機(jī)械掃描,儀器重量已小于二公斤,使用中如同手持?jǐn)z像機(jī)一樣,單手即可方便地操作。在低溫測(cè)量應(yīng)用中,通常用Ge或Si材料作為窗口,不透可見(jiàn)光,人眼不能通過(guò)窗口觀(guān)察目標(biāo)。其關(guān)鍵技術(shù)是探測(cè)器由單片集成電路組成,被測(cè)目標(biāo)的整個(gè)視野都聚焦在上面,并且圖像更加清晰,使用更加方便,儀器非常小巧輕便,同時(shí)具有自動(dòng)調(diào)焦圖像凍1結(jié),連續(xù)放大,點(diǎn)溫、線(xiàn)溫、等溫和語(yǔ)音注釋圖像等功能,儀器采用PC卡,存儲(chǔ)容量可高達(dá)500幅圖像。
紅外測(cè)溫儀指導(dǎo)生產(chǎn)的效果及其所發(fā)揮的作用
1.與鉑銠熱電偶、便攜式紅外測(cè)溫儀比較,OI-T60操作簡(jiǎn)便、測(cè)量準(zhǔn)確、重復(fù)性好。
2.對(duì)熔化生產(chǎn)過(guò)程實(shí)現(xiàn)全程溫度監(jiān)控。
⑴操作工根據(jù)顯示儀表測(cè)溫?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行操作??朔郧安僮髡呤芴鞖狻⑷说那榫w等用眼睛讀數(shù)造成誤差較大的現(xiàn)象。
⑵鑄造的熔注過(guò)程工藝相對(duì)穩(wěn)定,也就是說(shuō),金屬?gòu)娜刍撗酢蛟鷿沧⒌臏囟葓?chǎng)得到控制,達(dá)到穩(wěn)定熔鑄工藝效果。
⑶OI-T60的使用完全替代了傳統(tǒng)的各種測(cè)溫裝置,克服了它們不足之處,達(dá)到理想的測(cè)溫效果。
3.對(duì)提高鑄件的質(zhì)量有明顯的作用。
⑴由于金屬液體溫度得到適時(shí)控制,以前的較低溫度澆注現(xiàn)象被克服,鑄件的欠鑄、冷隔被克服。
⑵由于脫氧,打渣到澆注嚴(yán)格按工藝溫度操作,鑄件的夾渣、氣孔得到防止。
⑶阻止了過(guò)高溫度澆注,保證型殼表面層不過(guò)燒,克服了鑄件表面的毛刺、鑄瘤、鐵豆現(xiàn)象,減少了打磨量。
4. 明顯節(jié)約生產(chǎn)成本。
使用就是節(jié)約。該測(cè)溫儀在使用過(guò)程中基本無(wú)任何消耗成本,和使用熱電偶相比每年每爐節(jié)約成本至少1.5萬(wàn)元。
幾年來(lái),OI-T6系列光學(xué)創(chuàng)新性測(cè)溫儀已被武鋼集團(tuán)、中國(guó)重汽集團(tuán)、東風(fēng)公司、一汽集團(tuán)、法士特集團(tuán)、株洲車(chē)輛廠(chǎng)、北車(chē)集團(tuán)、首鋼公司、中國(guó)兵1器工業(yè)集團(tuán)、內(nèi)蒙一機(jī)、武漢神龍汽車(chē)公司、西安航空工業(yè)公司,寧波鑄造基地,河北滄州鑄造基地等企業(yè)廣泛使用;紅外測(cè)溫儀的在防控中起到的效果紅外測(cè)溫儀的防控妙用,傳統(tǒng)的體溫計(jì)丈量耗時(shí)較多,不適宜進(jìn)行大規(guī)模人群的體溫排查。
結(jié)論:
1.新型的OI-T60測(cè)溫儀克服了傳統(tǒng)測(cè)溫儀的不足,測(cè)溫精度高,重復(fù)性好,反映速度快,操作便攜。
2.OI-T60測(cè)溫儀還是鍛造、熱處理、真空爐、定向爐、單晶爐等其它熱加工行業(yè)較理想的非接觸測(cè)溫、控溫裝置,并得到更好的應(yīng)用。
3.OI-T60測(cè)溫儀的使用提高了鑄件表面質(zhì)量,減少了夾渣、氣孔、欠鑄的產(chǎn)生。提高鑄件的合格率,節(jié)省了生產(chǎn)成本,給企業(yè)帶來(lái)了顯著經(jīng)濟(jì)效益。
紅外測(cè)溫儀準(zhǔn)確測(cè)量溫度技巧
紅外測(cè)溫儀及其測(cè)量控制技術(shù)得到日益廣泛應(yīng)用,那么你知道紅外測(cè)溫儀準(zhǔn)確測(cè)量溫度的技巧嗎?
當(dāng)測(cè)量發(fā)光物體表面溫度時(shí),如鋁和不銹鋼,表面的反射會(huì)影響紅外測(cè)溫儀的讀數(shù)。在讀取溫度前,可在金屬表面放一膠條,溫度平衡后,測(cè)量膠條區(qū)域溫度。
要想紅外測(cè)溫儀可從廚房到冷藏區(qū)來(lái)回走動(dòng)仍能提供準(zhǔn)確的溫度測(cè)量,就要在新環(huán)境下經(jīng)過(guò)一段時(shí)間以達(dá)到溫度平衡后再測(cè)量。較好將測(cè)溫儀放在經(jīng)常使用的場(chǎng)所。
用紅外測(cè)溫儀讀取流體食品的內(nèi)部溫度,像湯或醬,必須攪動(dòng),然后就可測(cè)表面溫度。使測(cè)溫儀遠(yuǎn)離蒸汽,以避免污染透鏡,導(dǎo)致不正確的讀數(shù)。
選購(gòu)紅外測(cè)溫儀應(yīng)確定響應(yīng)時(shí)間
我們?cè)谶x購(gòu)紅外測(cè)溫儀時(shí)候,一般要從以下三方面考慮:
1.其他選擇方面,如使用方便、維修和校準(zhǔn)性能以及紅外測(cè)溫儀價(jià)格 等,也對(duì)測(cè)溫儀的選擇產(chǎn)生一定的影響。隨著技術(shù)和不斷發(fā)展,紅外測(cè)溫儀*佳設(shè)計(jì)和新進(jìn)展為用戶(hù)提供了各種功能和多用途的儀器,擴(kuò)大了選擇余地。
2.環(huán)境和工作條件方面,如環(huán)境溫度、窗口、顯示和輸出、保護(hù)附件等;
3.性能指標(biāo)方面,如溫度范圍、光斑尺寸、工作波長(zhǎng)、測(cè)量精度、響應(yīng)時(shí)間等;
接著具體的給大家介紹下:
1.確定響應(yīng)時(shí)間
響應(yīng)時(shí)間表示紅外測(cè)溫儀對(duì)被測(cè)溫度變化的反應(yīng)速度,定義為到達(dá)*后讀數(shù)的95%(雙色比色光纖只需需5%能量)能量所需要時(shí)間,它與光電探測(cè)器、溫度記錄儀信號(hào)處理電路及顯示系統(tǒng)的時(shí)間常數(shù)有關(guān)。新型紅外測(cè)溫儀響應(yīng)時(shí)間可達(dá)1ms。這要比接觸式測(cè)溫方法,快得多。如果目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)速度很快或測(cè)量快速加熱的目標(biāo)時(shí),要選用快速響應(yīng)紅外測(cè)溫儀,否則達(dá)不到足夠的信號(hào)響應(yīng),會(huì)降低測(cè)量精度。然而,并不是所有應(yīng)用都要求快速響應(yīng)的紅外測(cè)溫儀。對(duì)于靜止的或目標(biāo)熱過(guò)程存在熱慣性時(shí),測(cè)溫儀的響應(yīng)時(shí)間就可以放寬要求了。對(duì)于固定焦距的測(cè)溫儀,在光學(xué)系統(tǒng)焦點(diǎn)處為光斑較小位置,近于和遠(yuǎn)于焦點(diǎn)位置光斑都會(huì)增大。因此,紅外測(cè)溫儀響應(yīng)時(shí)間的選擇要和被測(cè)目標(biāo)的情況相適應(yīng)。