常見(jiàn)EMC測(cè)試項(xiàng)目-RE

RE主要是考察設(shè)備在正常工作時(shí)自身對(duì)外界的輻射的干擾強(qiáng)度，測(cè)試頻段根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)要求不同，在CISPR 11中，主要測(cè)試頻段為30～1000MHz，值得注意的是設(shè)備進(jìn)行RE測(cè)試時(shí)標(biāo)準(zhǔn)要求盡可能滿(mǎn)配置、滿(mǎn)負(fù)荷的運(yùn)行。RE問(wèn)題是EMC中的難點(diǎn)。主要因?yàn)镽E設(shè)計(jì)產(chǎn)品EMC設(shè)計(jì)的各個(gè)環(huán)節(jié)：屏蔽、濾波、接地；

在RE測(cè)試中，天線(xiàn)的高度、天線(xiàn)的極化方向以及轉(zhuǎn)臺(tái)的角度都需要不斷改變，以求檢測(cè)到設(shè)備輻射的大點(diǎn)。

RE測(cè)試可以在開(kāi)闊場(chǎng)和半電波暗室內(nèi)進(jìn)行；

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關(guān)于電磁兼容

電磁兼容(EMC) 是對(duì)電子產(chǎn)品電磁場(chǎng)方面干擾大小(EMI)和抗干擾能力(EMS) 的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。

輻射發(fā)射:通過(guò)空間以電磁波形式傳播的電磁干擾。

傳導(dǎo)發(fā)射:沿著導(dǎo)體傳播的電磁干擾。

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電磁兼容的發(fā)展

電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展，電和磁無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著人們的生活及生產(chǎn)，電磁能的廣泛應(yīng)用，使工業(yè)技術(shù)的發(fā)展日新月異。電磁能在為人類(lèi)創(chuàng)造巨大財(cái)富的同時(shí)，也帶來(lái)一定的危害，被稱(chēng)為電磁污染，研究電磁污染是環(huán)境保護(hù)中的重要分支。以往人們把無(wú)線(xiàn)電通訊裝置受到的干擾，稱(chēng)為電磁干擾，表明裝置受到外部干擾侵入的危害，其實(shí)它本身也對(duì)外部其他裝置造成危害，即成為干擾源。因此必須同時(shí)研究裝置的干擾和被干擾，對(duì)裝置內(nèi)部的組織和裝置之間要注意其相容性。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，日益廣泛采用的微電子技術(shù)和電氣化的逐步實(shí)現(xiàn)，形成了復(fù)雜的電磁環(huán)境。不斷研究和解決電磁環(huán)境中設(shè)備之間以及系統(tǒng)間相互關(guān)系的問(wèn)題，促進(jìn)了電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展。

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