華科智源IGBT測試儀針對 IGBT 的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測試系統(tǒng)；6)防護：無較大灰塵，腐蝕或性氣體，導電粉塵等空氣污染的損害。自動化程度高（按照操作人員設(shè)定的程序自動工作），計算機可以記錄測試結(jié)果，測試結(jié)果可轉(zhuǎn)化為文本格式存儲，測試方法靈活（可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試），安全穩(wěn)定（對設(shè)備的工作狀態(tài)進行全程實時監(jiān)控并與硬件進行互鎖），具有安全保護功能，測試速度方便快捷。

3.3主要技術(shù)要求

3.3.1 動態(tài)參數(shù)測試單元技術(shù)要求

3.3.1.1 環(huán)境條件

1)海拔高度：海拔不超過1000m；

2)溫度：儲存環(huán)境溫度 -20℃～60℃；

3)工作環(huán)境溫度： -5℃～40℃；

4)濕度：20%RH 至 90%RH (無凝露，濕球溫度計溫度: 40℃以下)；

5)震動：抗能力按7級設(shè)防，地面抗震動能力≤0.5g；

6)防護：無較大灰塵，腐蝕或性氣體，導電粉塵等空氣污染的損害；

2.3柵極電荷技術(shù)條件 測試參數(shù)： 柵極電荷Qg：20nC～100uC 20nC～100nC±5%，分辨率±1nC 100nC～500nC±5%，分辨率±5nC 500nC～2uC±5%，分辨率±10nC 2uC～10uC±5%，分辨率±50nC 10uC～100uC±5%，分辨率±100nC 測試條件： 1、柵極驅(qū)動電壓：-15V～ 15V±3%，分辨率±0.1V 2、集電極電流：50～100A±3%±1A; 100～500A±3%±2A; 500～1000A±3%±5A; 3、集電極電壓：50～100V±3%±1V 100～500V±3%±5V 500V～1000V±3%±10V 4、柵極驅(qū)動電流：滿足5A以下測試要求