大塚電子（蘇州）有限公司主要銷(xiāo)售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車(chē)前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶(hù)來(lái)電咨詢(xún)！

產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波長(zhǎng)反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長(zhǎng)量測(cè)范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測(cè)范圍。(1nm~250μm)對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距量測(cè)口徑。

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測(cè)試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀特點(diǎn)：寬闊的波長(zhǎng)量測(cè)范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測(cè)范圍。(1nm~250μm)對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距量測(cè)口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過(guò)率大于98%，全波段無(wú)熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來(lái)照射熒光材料樣品，再以光譜儀對(duì)產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測(cè)試并對(duì)其熒光材料特性做出評(píng)價(jià)。

1）石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過(guò)率大于98%，全波段無(wú)熒光反應(yīng)，用于液體樣品測(cè)試（3個(gè)）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     2）具有專(zhuān)用的液體容器定位裝置，可實(shí)現(xiàn)入射光垂直入射到容器表面。