關(guān)熔接機(jī)熔接損耗偏大原因分析及解決方法？

1、熔接機(jī)熔接損耗偏大該毛病導(dǎo)致的因素能夠從以下幾點(diǎn)剖析：

（1）熔接強(qiáng)度不行或過強(qiáng)，放電方位偏移；

  處理方法：做一下系統(tǒng)里的放電校正

（2）光纖端面不干凈有塵埃，或V型槽上有雜物，或光纖固定架上有雜物。

  處理方法：用酒精棉清潔后便可。

（3）光纖的切開端面視點(diǎn)差過大；

  處理方式：切割刀不穩(wěn)定或者切割不好，從新切割，或檢查切割是否需要調(diào)整。

（4）光學(xué)系統(tǒng)出問題，物鏡問題導(dǎo)致預(yù)算過錯(cuò)；

  處理方法：清潔物鏡，做下光源校正。

（5）熔接機(jī)程序犯錯(cuò)。

  處理方法：從啟程序。

光分路器原理

熔融拉錐型產(chǎn)品是將兩根或多根光纖進(jìn)行側(cè)面熔接而成；3、接續(xù)衰耗過大：首先對(duì)光纖的接續(xù)點(diǎn)的熱像進(jìn)行觀察，如果光纖熱像正常，則需進(jìn)行光纖的放電實(shí)驗(yàn)，自動(dòng)更改光纖接續(xù)參數(shù)。平面波導(dǎo)型是微光學(xué)元件型產(chǎn)品，采用光刻技術(shù)，在介質(zhì)或半導(dǎo)體基板上形成光波導(dǎo)，實(shí)現(xiàn)分支分配功能。這兩種型式的分光原理類似，它們通過改變光纖間的消逝場(chǎng)相互耦合（耦合度，耦合長(zhǎng)度）以及改變光纖纖半徑來實(shí)現(xiàn)不同大小分支量，反之也可以將多路光信號(hào)合為一路信號(hào)叫做合成器。熔錐型光纖耦合器因制作方法簡(jiǎn)單、價(jià)格便宜、容易與外部光纖連接成為一整體，而且可以耐孚機(jī)械振動(dòng)和溫度變化等優(yōu)點(diǎn)，目前成為市場(chǎng)的主流制造技術(shù)。

與同軸電纜傳輸系統(tǒng)一樣，光網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)也需要將光信號(hào)進(jìn)行耦合、分支、分配，這就需要光分路器來實(shí)現(xiàn)。光分路器常用M×N來表示一個(gè)分路器有M個(gè)輸入端和N個(gè)輸出端。在光纖CATV系統(tǒng)中使用的光分路器一般都是1×2、1×3以及由它們組成的1×N光分路器。產(chǎn)品通過內(nèi)置對(duì)稱雙刀頭結(jié)構(gòu)，對(duì)纜線護(hù)套實(shí)現(xiàn)雙面對(duì)稱開剝，也可旋轉(zhuǎn)產(chǎn)品的單面刀片，對(duì)纜線實(shí)現(xiàn)橫向開剝。

用于PON網(wǎng)絡(luò)的光分路器按功率分配形成規(guī)格來看，光分路器可表示為M×N，也可表示為M：N。M表示輸入光纖路數(shù)，N表示輸出光纖路數(shù)。在FTTx系統(tǒng)中，M可為1或2，N可為2、4、8、16、32、64、128等。本標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一用M×N表示。

電纜測(cè)試儀

 電纜故障測(cè)試儀用于檢測(cè)電纜故障，儀器種類、儀器型號(hào)大量增加，現(xiàn)在國(guó)內(nèi)電纜故障測(cè)試儀器市場(chǎng)上，供應(yīng)的儀器種類、儀器名稱種類繁多，除了我們常見的電纜故障測(cè)試儀以外，市場(chǎng)上陸續(xù)出現(xiàn)了直埋電纜故障測(cè)試儀、路燈電纜故障測(cè)試儀、中低壓電纜檢測(cè)儀、電纜接地故障測(cè)試儀、礦井電纜故障測(cè)試儀等等。如果鏡頭變臟或附有灰塵，令熔接機(jī)無法正常觀測(cè)光纖，從而導(dǎo)致無法熔接或熔接損耗加大。

測(cè)試原理

  任何電纜故障的測(cè)試，均以找到故障發(fā)生點(diǎn)為終目的，但就其測(cè)試過程來說，一般分為三個(gè)步驟：一為故障距離粗測(cè)；二是尋找故障電纜埋設(shè)路徑；三是準(zhǔn)確定位故障點(diǎn)。當(dāng)然，實(shí)際測(cè)試中，三個(gè)步驟是根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)情況靈活運(yùn)用的。