江蘇一六儀器有限公司是一家擁有先進(jìn)的技術(shù)，you秀的良將，嚴(yán)格的企業(yè)管理的公司。一六儀器、一liu品質(zhì)，各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎來電咨詢！

測厚儀主要類型

   用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)安全。一六儀器X熒光鍍層測厚儀微聚焦射線管和先進(jìn)光路設(shè)計以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。根據(jù)測定原理的不同，常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。激光測厚儀型號選擇方法：1、用戶需要告訴激光測厚儀生產(chǎn)廠家測量什么產(chǎn)品的厚度及其抖動、運(yùn)動速度等。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

  我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會對自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

一、維護(hù)及注意事項

  1. 應(yīng)避免儀器及測頭受到強(qiáng)烈震動；

  2. 避免儀器置于過于潮濕的環(huán)境中；

  3.  插拔測頭時，應(yīng)捏住活動外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)測頭，以避 免損壞測頭電纜芯線。

  4.  油、灰塵的附著會使測頭線逐漸老化、斷裂，使用后應(yīng)清除纜線上的污垢。

  5.    當(dāng)儀器出現(xiàn)非正常現(xiàn)象時，請不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配的零件，請交給廠家維修部門檢測、維修。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。在線測厚儀是指在測厚過程中將測量結(jié)果實時的顯示給使用者或者控制系統(tǒng)，以便使用者或者控制系統(tǒng)能夠及時的對異常數(shù)據(jù)作出反應(yīng)，為自動化生產(chǎn)一個重要環(huán)節(jié)。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

     影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因為一點(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個點(diǎn)。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

   (1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時，選擇的基體的表面也必須是luo露的、光滑的。

X射線熒光分析儀的應(yīng)用

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測，對產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無損檢測，對人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。