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2.5次元影像測量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢?
2.5次元測量儀,是指在二次元的基礎上,以光學影像測量可測高度及深度,或者在鏡頭上加個測針,用光學鏡頭測量平面尺寸、用測針進行接觸式測量可測深度,達到3維測量的效果,但此3維測量僅是簡易的3D測量,未能真正地實現3維全部空間尺寸的測量,因此被稱為2.5次元。
適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統(tǒng)能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導體、聚合物到有機材料——進行三維表面分析。共焦技術能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數據。采用NanoFocus技術的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產和加工的不同階段對敏感表面進行無損測量,透明涂層表面和層厚也可以同時測量。
無需樣品制備即可在幾秒鐘內獲取真正的3D數據,進而對表面進行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數據的分析提供了強大的綜合軟件解決方案以便確定相關參數。
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