仰臥起坐測(cè)試儀的注意事項(xiàng)

1、受試者仰臥于墊上，兩腿稍分開，雙腳國(guó)定在墊的儀器上，屈膝呈90度角左右，兩手百指交叉貼于腦后，腰部帶好電子測(cè)試腰帶。

起坐前由測(cè)試員用儀器確認(rèn)受測(cè)試者IC卡，當(dāng)聽到儀器發(fā)出“滴—滴滴”提示音受度試者即開始起坐。

2、一仰一坐動(dòng)作必須連貫，且均有提示音，儀器才自動(dòng)計(jì)數(shù)1。若連貫一仰一坐動(dòng)作不到位，無提示音，則不計(jì)數(shù)。

測(cè)試者躺在測(cè)試墊位置上，操作人員調(diào)節(jié)探頭位置，使低探頭對(duì)準(zhǔn)平躺時(shí)肩部的位置，

高探頭應(yīng)對(duì)準(zhǔn)（以正確姿勢(shì)做仰臥起坐）抬起上身至兩肘觸膝時(shí)肩部或頭部的位置

（注意膝蓋不要擋住探頭）。當(dāng)儀器點(diǎn)擊確認(rèn)發(fā)出“嘀”提示時(shí)，儀器進(jìn)入一分鐘，學(xué)生開始測(cè)試。

注意事項(xiàng)

1 探頭的位置需要按不同測(cè)試者進(jìn)行適當(dāng)調(diào)節(jié)。

2 測(cè)試開始前，測(cè)試者必須仰臥躺在測(cè)試墊上3秒鐘（遮擋住探頭3秒鐘），才可進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)。

3 測(cè)試者每次起身時(shí)兩肘必須觸及雙膝（兩個(gè)探頭都遮擋一次），否則不計(jì)數(shù)。

4不能堅(jiān)持一分鐘的測(cè)試者，起身5秒鐘后，測(cè)試儀自動(dòng)退出測(cè)試，并顯示測(cè)試結(jié)果。

5 測(cè)試中探頭前1米內(nèi)不得有物體遮擋干擾。

6 不得在打開電源的情況下插拔附件連接線。

7 不能隨意對(duì)該儀器進(jìn)行拆卸，有問題時(shí)應(yīng)及時(shí)通知維護(hù)工程師。

仰臥起坐的測(cè)試方法及注意事項(xiàng)是什么?

液晶屏必須朝上，外設(shè)開關(guān)放在受測(cè)人的左邊，保證坐起時(shí)液晶屏與地面成90度，否則不計(jì)數(shù)；坐起時(shí)兩肘觸及或超過雙膝為完成一次；仰臥時(shí)兩肩胛必須觸墊；不得借用肘部撐墊或臀部起落的力量起坐。

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使用注意事項(xiàng)：

1、采用1G雙核處理器，512MB DDR3內(nèi)存，4G NAND Flash，，低功耗，處理速度快;

2、采用7英寸真彩LCD液晶屏，觸摸按鍵，支持多點(diǎn)觸控。保證10萬小時(shí)的無故障使用時(shí)間，可實(shí)時(shí)顯示測(cè)試者的姓名、學(xué)號(hào)、照片等各種基本信息和測(cè)試成績(jī);

4、采用安卓系統(tǒng)，圖形化的操作界面，系統(tǒng)穩(wěn)定，人機(jī)交互性強(qiáng);同時(shí)USB接口可插接普通的鍵盤和鼠標(biāo)，以方便用戶輸入;

5、采用語音合成技術(shù)，具有全程真人發(fā)聲的語音提示功能;既可使用裝置自帶的喇叭，也可外接有源音箱，方便現(xiàn)場(chǎng)學(xué)生操作;

6、的輸入支持手工輸入學(xué)號(hào)(支持英文字母)，提前批量導(dǎo)入學(xué)號(hào)，同時(shí)還具有IC卡智能識(shí)別功能，可與校園卡兼容使用。通過所擴(kuò)展接口，可升級(jí)為指紋、條碼掃描槍等其它身份識(shí)別方式;

7、內(nèi)含海量存儲(chǔ)芯片，并采用雙存儲(chǔ)介質(zhì)備份功能，單機(jī)測(cè)試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)10萬條以上，可直接用WIFI、U盤等方式一次性導(dǎo)入計(jì)算機(jī);數(shù)據(jù)上傳方便，支持實(shí)時(shí)上傳和批量上傳兩種數(shù)據(jù)傳輸方式;

9、內(nèi)置大功率環(huán)?？沙潆婁囯姵兀哂谐浞烹姽芾砉δ?，剩余電量可在系統(tǒng)下實(shí)時(shí)顯示并提供低電量報(bào)警提示，可在無交流電源時(shí)提供10小時(shí)的持續(xù)電能。

10、光電式非接觸測(cè)試，多點(diǎn)式監(jiān)測(cè)頭部和膝蓋部位。測(cè)試者不需佩戴任何測(cè)試設(shè)備(如腰帶等)，儀器根據(jù)測(cè)試者的身高自適應(yīng)調(diào)整，無需人工干預(yù)。根據(jù)測(cè)試要求，可以測(cè)試從30秒到180秒的不同測(cè)試模式。

11、測(cè)試量程：0個(gè)——500個(gè) 分辨率：1個(gè) 測(cè)試誤差：±1個(gè)