外測(cè)量示值誤差——用步距規(guī)或尺寸分布

外測(cè)量示值誤差——用步距規(guī)或尺寸分布適宜的一組量塊(不少于5件)在外量面內(nèi)側(cè)(阿貝誤差小，在量面外側(cè)檢外量面平行度)檢驗(yàn)其外測(cè)量示值誤差，其誤差應(yīng)不超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限(與測(cè)量范圍有關(guān)，0-100mm為±0.02mm； ＞100-300mm為±0.03mm)；

內(nèi)測(cè)量示值誤差——用小環(huán)規(guī)(直徑3-4mm)和步距規(guī)相結(jié)合檢驗(yàn)內(nèi)測(cè)量示值誤差，這是國(guó)際通用檢驗(yàn)方法。但我國(guó)多數(shù)卡尺(防水?dāng)?shù)顯卡尺品牌、帶表卡尺、或游標(biāo)卡尺)生產(chǎn)廠(chǎng)家和用戶(hù)，并未認(rèn)真檢驗(yàn)內(nèi)測(cè)量示值誤差，只檢驗(yàn)10mm處內(nèi)量爪尺寸或這一點(diǎn)的示值誤差，以至多數(shù)卡尺內(nèi)測(cè)量示值誤差較大(與國(guó)外卡尺相比，差距較大)。

精密測(cè)量?jī)x的感應(yīng)元件與被測(cè)零件表面不直接觸

精密測(cè)量?jī)x：二次元

二次元是一種、高精密特性的非接觸式的測(cè)量?jī)x器。測(cè)量器具的感應(yīng)元件與被測(cè)零件表面不直接接觸，因而不存在機(jī)械作用的測(cè)量力；二次元通過(guò)投影的方式將所能到的圖象通過(guò)數(shù)據(jù)線(xiàn)傳輸?shù)诫娔X的數(shù)據(jù)采集卡中，之后由軟件在電腦顯示器上成像；可進(jìn)行零件上各種幾何元素（點(diǎn)、線(xiàn)、圓、弧、橢圓、矩形）、距離、角度、交點(diǎn)、形位公差（圓度、直線(xiàn)度、平行度、垂直度、傾斜度、位置度、同心度、對(duì)稱(chēng)度）的測(cè)量，還可進(jìn)行外形輪廓2D描繪用CAD輸出。不僅能觀測(cè)到工件輪廓，而且，對(duì)于不透明的工件的表面形狀也可以測(cè)量。

數(shù)顯卡尺指示誤差校驗(yàn)：

1.檢查點(diǎn)的分布：參見(jiàn)卡尺分布。

2.計(jì)量點(diǎn)應(yīng)在測(cè)量爪的內(nèi)端和外端的兩個(gè)位置、量塊的長(zhǎng)邊和規(guī)面上進(jìn)行檢查。

3、每一個(gè)檢查點(diǎn)用卡尺重復(fù)3-5次，測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值。

4.測(cè)量應(yīng)在兩個(gè)條件下進(jìn)行：螺釘緊固和松動(dòng)。無(wú)論尺架是否緊固，測(cè)量表面與卡尺基礎(chǔ)面之間的接觸面應(yīng)能正常滑動(dòng)。

5、計(jì)算每個(gè)規(guī)格重復(fù)測(cè)量的平均值

6、拿著量塊時(shí)要戴手套，輕輕地處理它們。

7、將量塊值與實(shí)測(cè)平均值進(jìn)行比較，并根據(jù)判據(jù)進(jìn)行判斷。

8、校準(zhǔn)后，校準(zhǔn)卡尺被防銹并放入箱中。量塊防銹保養(yǎng)，整齊放置于箱內(nèi)。向用戶(hù)或托管人發(fā)送更正。