使圓錐角α為大致53度,測(cè)量觸頭的移動(dòng)量與測(cè)桿的進(jìn)退量相等

以往，在該內(nèi)徑測(cè)量器中，設(shè)置于測(cè)桿的螺紋部的導(dǎo)程為 0.5mm，而且為了使測(cè)量觸頭的移動(dòng)量與測(cè)桿的進(jìn)退量相等，圓錐構(gòu)件的圓錐角 α 通常為大致 53 度。即，( 一個(gè)測(cè)量觸頭的移動(dòng)量 ) ＝ ( 測(cè)桿的進(jìn)退量 )×tan(α×1/2)，由于 tan(53×1/2) ≈ 0.5，因此，通過(guò)使圓錐角 α 為大致 53 度，測(cè)量觸頭的移動(dòng)量 ( 多個(gè)測(cè)量觸頭中的兩個(gè)測(cè)量觸頭的移動(dòng)量的合計(jì) ) 與測(cè)桿的進(jìn)退量相等。

IMICRO是世界上遵循阿貝原則的內(nèi)徑千分尺

阿貝原理要求標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度量（標(biāo)準(zhǔn)線）務(wù)必與被測(cè)長(zhǎng)度量（被測(cè)線）共線，從而減少測(cè)量的誤差。而IMICRO是世界上遵循阿貝原則的內(nèi)徑千分尺，使深孔測(cè)量更加穩(wěn)定可靠。

1.一般我們的內(nèi)徑千分尺測(cè)量頭采用的是光滑椎體，溫度的變化會(huì)導(dǎo)致椎體發(fā)生形變，使得原來(lái)的絲桿螺距與椎體的比例失調(diào)進(jìn)而測(cè)量頭被動(dòng)伸縮，精度走失。2.IMICRO系列為基于阿基米德算法制作出的螺紋椎體，其隨溫度的變化不會(huì)影響測(cè)爪的運(yùn)動(dòng)，從而減少精度誤差。

示值誤差正負(fù)皆存在時(shí),需分兩次進(jìn)行研磨

示值誤差正負(fù)皆存在時(shí)，需分兩次進(jìn)行研磨，根據(jù)負(fù)值誤差一個(gè)，確定零值的研磨量，對(duì)零位附近螺紋部位進(jìn)行研磨，修正到允許誤差范圍內(nèi)，然后檢定各點(diǎn)示值誤差，可發(fā)現(xiàn)各點(diǎn)示值誤差均向正值方向變化，再根據(jù)示值誤差確定第二次的研磨量進(jìn)行研磨。在研磨工作中需要注意的是，研磨時(shí)，不能只研磨受檢點(diǎn)，而必須在受檢點(diǎn)附近研磨，以保證受檢點(diǎn)外的部位的示值誤差的準(zhǔn)確度。在研磨過(guò)程中，必須隨時(shí)注意適當(dāng)旋緊與絲桿互研的螺母，以防螺紋牙廓變形。

計(jì)算千分尺的測(cè)量不確定性度

計(jì)算千分尺的測(cè)量不確定性度有兩種方法：實(shí)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)法和分析計(jì)算法。實(shí)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)發(fā)實(shí)在實(shí)驗(yàn)條件下，通過(guò)對(duì)一批千分尺的連續(xù)檢測(cè)，得到一系列觀測(cè)值，算出反應(yīng)該系列觀測(cè)值分散特性的表征指標(biāo)，標(biāo)準(zhǔn)偏差。分析綜合計(jì)算法是以設(shè)計(jì)千分尺時(shí)所擬定的機(jī)構(gòu)參數(shù)及其技術(shù)要求為依據(jù)，以隨機(jī)綜合為基礎(chǔ)，分析計(jì)算出反應(yīng)數(shù)顯千分尺內(nèi)在誤差影響分散范圍的界限值，作為千分尺不確定性度。影響千分尺的不確定分量有測(cè)微螺桿的螺距誤差，分度及刻線誤差，測(cè)量面的平面，平行度誤差，測(cè)力變化誤差和視差。千分尺的測(cè)微螺桿和螺母的配合是有間隙的旋合，當(dāng)旋動(dòng)測(cè)桿使之朝測(cè)砧或朝測(cè)力裝置方向移動(dòng)時(shí)，由于螺距誤差的影響，使得測(cè)桿的牙廊和螺母牙廊的接觸在整個(gè)量程上各部分的間隙不同，給示值帶來(lái)誤差。千分尺的測(cè)微螺桿相當(dāng)于儀器上的標(biāo)尺，測(cè)微螺桿的螺距誤差類(lèi)似于標(biāo)尺的分度誤差。