光學(xué)影像測量儀檢測是一種常見測量技術(shù)，通過提供了量化的圖像測量方式，獲得測量數(shù)據(jù)，從而對零部件公差尺寸進行把控，是機械、電子制造業(yè)，計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。

影像測量儀的誤差來源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺挪動時存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; （5）精l確測量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標準的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動對焦和指向偏差。

2.5次元影像測量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢？

2.5次元測量儀，是指在二次元的基礎(chǔ)上，以光學(xué)影像測量可測高度及深度，或者在鏡頭上加個測針，用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸、用測針進行接觸式測量可測深度，達到3維測量的效果，但此3維測量僅是簡易的3D測量，未能真正地實現(xiàn)3維全部空間尺寸的測量，因此被稱為2.5次元。

三維形貌測量儀是目前國內(nèi)外追捧使用的非接觸式測量設(shè)備，其采用國l際先進的外插式多頻相移技術(shù)、相位測量技術(shù)和計算機視覺技術(shù)，其測量過程是：成功標定設(shè)備后，將光柵投影裝置投影到被測物上，同時兩個成一定角度的攝像機同步采集光柵投射后的被測物，然后再軟件里面對圖像進行解l碼和相位解包裹計算，并根據(jù)立體匹配技術(shù)和三角測量技術(shù)，解算出攝像機公共視區(qū)內(nèi)像素點的三維坐標