一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

鍍層厚度分析儀的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆

層測(cè)厚時(shí)采用。

江蘇一六儀器   X熒光鍍層測(cè)厚儀  一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題歡迎咨詢聯(lián)系！

1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口

3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4測(cè)量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm聚焦距離時(shí)，測(cè)量斑點(diǎn)尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時(shí)，測(cè)量斑點(diǎn)尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

5X射線探測(cè)系統(tǒng)封氣正比計(jì)數(shù)器裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路

6樣品室CMI900CMI950-樣品室結(jié)構(gòu)開(kāi)槽式樣品室開(kāi)閉式樣品室-樣品臺(tái)尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動(dòng)范圍標(biāo)準(zhǔn):152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動(dòng)高度43.18mmXYZ程控時(shí)，152.4mmXY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

測(cè)厚范圍可測(cè)定厚度范圍:取決于用戶的具體應(yīng)用。江蘇一六儀器X射線熒光鍍層測(cè)厚儀為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案X射線熒光光譜測(cè)厚儀操作流程:1。將列表可測(cè)定的厚度范圍-基本分析功能無(wú)標(biāo)樣檢量線測(cè)厚，可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動(dòng)進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。根據(jù)客戶本身應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測(cè)元素范圍:Ti22–U92可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時(shí)，可同時(shí)測(cè)定15種元素多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測(cè)器和電子線路的變化對(duì)分析結(jié)果的影響，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移譜峰計(jì)數(shù)時(shí)，峰漂移自動(dòng)校正功能譜峰死時(shí)間自動(dòng)校正功能譜峰脈沖堆積自動(dòng)剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測(cè)樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算-測(cè)量自動(dòng)化功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))鼠標(biāo)控制測(cè)量模式:'PointandShoot'多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式測(cè)量位置預(yù)覽功能激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能-樣品臺(tái)程控功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))設(shè)定測(cè)量點(diǎn)oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測(cè)量位置預(yù)覽

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      X熒光光譜儀原理及應(yīng)用領(lǐng)域

一、簡(jiǎn)單原理

      每個(gè)元素受高能輻射激發(fā)，即發(fā)射出具有一定特征的X射線譜線。通過(guò)軟件測(cè)試分析得出該譜線波長(zhǎng)，即可知道是那種元素（定性）；通過(guò)分析測(cè)試其強(qiáng)度，得出該元素含量（定量）。X熒光光譜分析是一種非常常見(jiàn)的分析技術(shù)，

二、應(yīng)用領(lǐng)域

     X熒光光譜儀作為一種常見(jiàn)的分析技術(shù)手段，在現(xiàn)實(shí)生活中有著非常廣泛的應(yīng)用，主要可以分為以下四大類：

1.鍍層行業(yè)

     電鍍行業(yè)尤其以工業(yè)電鍍?yōu)橹?，在工業(yè)生產(chǎn)中，通常我們?yōu)榱水a(chǎn)品尤其是金屬類能達(dá)到一定的性能會(huì)在其表面鍍上另一種金屬，這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控，而X熒光光譜儀就是其best的管控者。

2.重金屬檢測(cè)

      我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關(guān)聯(lián)，但這其中也許就含有對(duì)我們?nèi)梭w是有害的重金屬，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長(zhǎng)期接觸會(huì)導(dǎo)致人體的病變甚至，為了使用安全，工業(yè)生產(chǎn)時(shí)需對(duì)產(chǎn)品重金屬檢測(cè)管控（RoHS檢測(cè)），而X熒光儀器就能對(duì)其進(jìn)行監(jiān)測(cè)。這個(gè)方法是測(cè)定幾點(diǎn)實(shí)際的已知濃度樣品，尋求想測(cè)定元素的熒光X射線強(qiáng)度和濃度之間的關(guān)系，以其結(jié)果為基礎(chǔ)測(cè)定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

3.元素成分分析

      元素成分分析應(yīng)用也是更加廣泛，如巖石礦產(chǎn)的開(kāi)發(fā)開(kāi)采，鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會(huì)大大改變其物理性質(zhì)，為達(dá)到這種物理性質(zhì)就需要控制相關(guān)元素的含量，通過(guò)X熒光儀器的檢測(cè)就可以很好的生產(chǎn)出我們所需的物品，另外還可以利用成分分析原理對(duì)珠寶首飾進(jìn)行真假鑒定。從設(shè)計(jì)上分為橫窗型(sidewindowtype)和縱窗型(endwindowtype)兩種X射線管，都是設(shè)計(jì)成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結(jié)構(gòu)。

4.古董的檢測(cè)

     X熒光儀器在古董的檢測(cè)鑒定上也起著重要的作用，通過(guò)儀器檢測(cè)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定性分析可得其元素成分，從而對(duì)產(chǎn)品的年限進(jìn)行一個(gè)判斷，得出結(jié)論。