本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測(cè)試的系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波長(zhǎng)反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長(zhǎng)量測(cè)范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測(cè)范圍。(1nm~250μm)對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距量測(cè)口徑。

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀:主要測(cè)試項(xiàng)目：量子效率測(cè)定，量子效率的激發(fā)波長(zhǎng)依賴特性，發(fā)光光譜、反射光譜測(cè)定，透過(guò)、吸收光譜測(cè)量，PL激發(fā)光譜，顏色演算（色度、色溫、演色性等）利用二次激發(fā)熒光校正功能去除再激發(fā)熒光發(fā)光。

解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法

基板解析/里面反射補(bǔ)正/各類nk解析模型式

絕i對(duì)反射率/解析結(jié)果Fitting/折射率n的波長(zhǎng)相關(guān)性/消光系數(shù)k的波長(zhǎng)相關(guān)性

3D顯示功能（面內(nèi)膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖）

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測(cè)試的系統(tǒng)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

  下圖為積分半球光學(xué)系統(tǒng)。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會(huì)與實(shí)際情況有所不同。(本次系統(tǒng)采用的是積分半球)。

積分全球/半球 ，在遭受到強(qiáng)大的沖擊力后有可能會(huì)產(chǎn)生變形甚至損壞。對(duì)于這種情況，我司將不承擔(dān)責(zé)任。積分半球的內(nèi)側(cè)涂有硫酸i鋇或者是Spectralon，受到污染后如需要交換可與我司聯(lián)系。貨期大約為1.5個(gè)月左右。

關(guān)于冷卻水的更換沒(méi)有特定的時(shí)間要求，可目視，發(fā)現(xiàn)水有污垢時(shí)請(qǐng)更換冷卻水。更換時(shí)請(qǐng)用自來(lái)水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會(huì)和空氣中的CO2結(jié)合形成酸性環(huán)境，從而導(dǎo)致冷卻裝置內(nèi)部遭到腐蝕）。