貴金屬分析儀的測(cè)試

貴金屬分析儀的測(cè)試流程

〈1〉自檢：把銀片放入儀器，點(diǎn)擊軟件界面“自檢”按紐。當(dāng)顯示數(shù)值在-1 — 1之間，即可開始檢測(cè)。

〈2〉測(cè)量：把首飾放入儀器，點(diǎn)擊軟件界面“測(cè)量”按鈕，等待顯示結(jié)果。測(cè)量時(shí)注意首飾選點(diǎn)，選點(diǎn)好壞對(duì)檢測(cè)結(jié)果可能產(chǎn)生很大影響。

〈3〉保存打?。簻y(cè)量完成后可選擇是否保存數(shù)據(jù)，也可選擇是否打印數(shù)據(jù)。

以上就是關(guān)于貴金屬分析儀的相關(guān)內(nèi)容介紹，如有需求，歡迎撥打圖片上的熱線電話！

儀器特點(diǎn)

1. 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)采用全自動(dòng)數(shù)控精密位移樣品臺(tái)，配合我公司自主研發(fā)的專利軟件，操作簡(jiǎn)單，可進(jìn)行多點(diǎn)連續(xù)測(cè)量及均勻度分析，節(jié)省時(shí)間，優(yōu)化工作流程，避免不均勻帶來的測(cè)量誤差。

2. 鼠標(biāo)控制，輕輕一點(diǎn)即可快捷、選取被測(cè)點(diǎn)，避免手動(dòng)選取被測(cè)點(diǎn)的繁瑣操作及選點(diǎn)誤差。

3. 具備高含量精密分析模式?？蓪?duì)99.9%（千足金）、99.99%進(jìn)行有效分析。

4. 采用來自美國的電制冷硅漂移（SDD）探測(cè)器，探測(cè)面積可達(dá)25mm2，遠(yuǎn)大于傳統(tǒng)的6mm2，分辨率可達(dá)125eV，遠(yuǎn)優(yōu)于國標(biāo)GB18043-2013。因此大大降低了元素間的干擾，可準(zhǔn)確檢測(cè)鉑金含銥、黃金含銥等復(fù)雜成分樣品，防止購回業(yè)務(wù)中產(chǎn)生誤判帶來經(jīng)濟(jì)損失。測(cè)量樣品型態(tài)：固體、粉末、液體想要了解更多，趕快撥打圖片上的電話吧。

期望大家在選購貴金屬分析儀時(shí)多一份細(xì)心，少一份浮躁，不要錯(cuò)過細(xì)節(jié)疑問。想要了解更多貴金屬分析儀的相關(guān)資訊，歡迎撥打圖片上的熱線電話！！

金銀檢測(cè)儀的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)

易于使用，一鍵操作，即可獲得首飾組成成份的分析結(jié)果

有助于識(shí)別鍍金樣件的創(chuàng)新型功能

機(jī)身莊重大氣，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi)，即可得到有關(guān)樣件的組成成份

用戶通過攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng)，可以看到樣件測(cè)試位置，提升了用戶對(duì)測(cè)試信心

測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)保存數(shù)據(jù)庫，方便存檔查找

有X射線防護(hù)鎖，只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線，安全、可靠的保證客戶使用