外測(cè)量示值誤差——用步距規(guī)或尺寸分布

外測(cè)量示值誤差——用步距規(guī)或尺寸分布適宜的一組量塊(不少于5件)在外量面內(nèi)側(cè)(阿貝誤差小，在量面外側(cè)檢外量面平行度)檢驗(yàn)其外測(cè)量示值誤差，其誤差應(yīng)不超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限(與測(cè)量范圍有關(guān)，0-100mm為±0.02mm； ＞100-300mm為±0.03mm)；

內(nèi)測(cè)量示值誤差——用小環(huán)規(guī)(直徑3-4mm)和步距規(guī)相結(jié)合檢驗(yàn)內(nèi)測(cè)量示值誤差，這是國(guó)際通用檢驗(yàn)方法。但我國(guó)多數(shù)卡尺(防水?dāng)?shù)顯千分尺廠家、帶表卡尺、或游標(biāo)卡尺)生產(chǎn)廠家和用戶，并未認(rèn)真檢驗(yàn)內(nèi)測(cè)量示值誤差，只檢驗(yàn)10mm處內(nèi)量爪尺寸或這一點(diǎn)的示值誤差，以至多數(shù)卡尺內(nèi)測(cè)量示值誤差較大(與國(guó)外卡尺相比，差距較大)。

兩個(gè)標(biāo)稱尺寸相同的陶瓷量塊的工作面

所示，用兩個(gè)標(biāo)稱尺寸相同的陶瓷量塊的工作面作為基面，兩塊量塊工作面的平面性要求小于0．015 肌，將相同尺寸的陶瓷量塊和玻璃量塊并排地研合在這兩塊

量塊的工作表面。將該組合體倒置于柯氏干涉儀工作臺(tái)

上，用黃光觀察，陶瓷量塊低于研合面的光學(xué)距離為t Ⅳ，而玻璃量塊低于研合面的距離為t：，故它使我們看到在陶瓷量塊和玻璃量塊上有兩組相互平行的干涉帶。由于研合厚度的差別及光在陶瓷量塊表面的位相跳躍，使兩組干涉帶中間的黑干涉帶有一個(gè)位移

由于陶瓷量塊的特殊性，選擇測(cè)量方法時(shí)要特別注意，采用比較法測(cè)量陶瓷量塊長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)采用陶瓷量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)配以陶瓷材料制成的帶筋工作臺(tái)；選擇直接測(cè)量時(shí)，要根據(jù)量塊的材料特性確定修正量C ，而不能直接引用鋼量塊的0．06 m的修正量

塞尺測(cè)量零件與平臺(tái)之間的間隙

塞尺的應(yīng)用

塞尺適用于平面度、彎曲度、直線度的測(cè)量平面度測(cè)量 ：將零件放置平臺(tái)上，用塞尺測(cè)量零件與平臺(tái)之間的間隙（注意：測(cè)量時(shí)塞尺與平臺(tái)保持無(wú)間隙壓緊狀態(tài)） 直線度測(cè)量：將零件放在平臺(tái)上旋轉(zhuǎn)一周，用塞尺測(cè)量零件與平臺(tái)之間的間隙。彎曲度測(cè)量：將零件放置在平臺(tái)上，選取相應(yīng)的塞尺測(cè)量零件兩側(cè)或中部與平臺(tái)之間的間隙。