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自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)aoi產(chǎn)品介紹「在線咨詢」

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發(fā)布時(shí)間:2020-07-19 21:50  






AOI主要特點(diǎn):1)高速檢測(cè)系統(tǒng)與PCB板帖裝密度無(wú)關(guān)2)快速便捷的編程系統(tǒng)圖形界面下進(jìn)行運(yùn)用帖裝數(shù)據(jù)自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測(cè)運(yùn)用元件數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行檢測(cè)數(shù)據(jù)的快速編輯3)運(yùn)用豐富的專用多功能檢測(cè)算法和二元或灰度水平光學(xué)成像處理技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)4)根據(jù)被檢測(cè)元件位置的瞬間變化進(jìn)行檢測(cè)窗口的自動(dòng)化校正,達(dá)到高的精度檢測(cè)5)通過(guò)用墨水直接標(biāo)記于PCB板上或在操作顯示器上用圖形錯(cuò)誤表示來(lái)進(jìn)行檢測(cè)電的核對(duì)




AOI隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高,自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用。基于對(duì)市場(chǎng)和客戶的深入了解,成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)(AOI)。

自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI)是必不可少的。AOI四個(gè)檢測(cè)位置中,錫膏印刷之后、(片式)器件貼放之后和元件貼放之后的檢測(cè)目的在于預(yù)防問(wèn)題,在這幾個(gè)位置檢測(cè),能夠阻止缺陷的產(chǎn)生。在轉(zhuǎn)到使用無(wú)鉛工藝時(shí),制造商將面臨新的挑戰(zhàn),在生產(chǎn)中會(huì)出現(xiàn)其他的問(wèn)題,引起了人們的關(guān)注。本文分析轉(zhuǎn)到無(wú)鉛工藝的整個(gè)過(guò)程,特別是在大規(guī)模生產(chǎn)中引進(jìn)了0402無(wú)鉛元件。由于缺乏無(wú)鉛元件,轉(zhuǎn)到使用無(wú)鉛元件是分階段進(jìn)行的。





AOI為客戶提供專業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)(AOI),產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子、等各個(gè)領(lǐng)域,為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù),在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中,明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀,以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求,成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商,用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵。

波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。AOI元器件對(duì)一個(gè)穩(wěn)定的工藝過(guò)程來(lái)說(shuō),一個(gè)重要的因素是元器件,這不僅與PCB上直接的器件布局有關(guān),而且或多或少也與“工藝流程設(shè)計(jì)”有關(guān)。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源,一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大,灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源,比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理,檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段,因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理,紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用,甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中,利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化,利用光學(xué)干涉原理的白光干涉(white light interferometry)在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用,例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差,可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異,且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng),測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測(cè)的新需求。




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