實(shí)驗(yàn)室計(jì)量校準(zhǔn)的介紹　　

校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室或進(jìn)行自校準(zhǔn)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，對(duì)所有的校準(zhǔn)和各種校準(zhǔn)類型都應(yīng)具有并應(yīng)用評(píng)定測(cè)量不確定度的程序。一般采用GUM方法進(jìn)行評(píng)估，GUM主要適用條件： (1)可以假設(shè)輸入量的概率分布呈對(duì)稱分布。(2)可以假設(shè)輸出量的概率分布近似為正態(tài)分布或t分布。(3)測(cè)量模型為線性模型、可轉(zhuǎn)換為線性的模型或可用線性模型近似的模型。

計(jì)量校準(zhǔn)的介紹　

“常規(guī)條件”是指測(cè)量?jī)x器、測(cè)量人員、測(cè)量方法、環(huán)境條件為實(shí)驗(yàn)室在其認(rèn)可條件下所正常達(dá)到的要求，而被校準(zhǔn)對(duì)象必須處于“接近理想”的狀態(tài)。CMC不能包括被校準(zhǔn)儀器的缺陷的物理效應(yīng)影響。必須強(qiáng)調(diào)的是，這并不是說(shuō)不考慮被校準(zhǔn)儀器對(duì)不確定度的影響，而是這種影響處于理想的狀態(tài)。也就是說(shuō)，針對(duì)一種實(shí)際存在的被校準(zhǔn)儀器，且準(zhǔn)確度高，分辨力小

計(jì)量測(cè)量誤差的介紹

制造與裝調(diào)誤差。測(cè)量器具的各個(gè)零部件的制造與裝調(diào)誤差都會(huì)引起測(cè)量誤差。例如，表盤的制造安裝誤差測(cè)微螺桿的螺距誤差，光學(xué)系統(tǒng)的放大倍數(shù)、鑒別率的誤差以及電器元件各參數(shù)誤差等。讀數(shù)方式誤差  對(duì)于采用指針或指標(biāo)線對(duì)準(zhǔn)刻線進(jìn)行計(jì)數(shù)的裝置所造成的讀數(shù)方式誤差由對(duì)準(zhǔn)誤差、視差和估讀誤差三部分組成。