鋼研納克SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀采用高分辨率線陣CCD（Charge-coupled Device）作為檢測(cè)器，實(shí)現(xiàn)全譜掃描，可以廣泛適用于多種基體金屬樣品的全元素成分分析。SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀優(yōu)點(diǎn)不再受光電倍增管排布的空間限制，可以任意增加分析元素，無(wú)需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)方便。光譜儀激發(fā)光源為激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料，原位單次放電采集技術(shù)有效提高分析精度，網(wǎng)口采集，通用性更強(qiáng)。

1.    采用多個(gè)CCD對(duì)可用范圍內(nèi)的光譜譜線進(jìn)行全譜掃描

2.    激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料

3.    分析應(yīng)用覆蓋面廣泛，與傳統(tǒng)儀器相比，不受通道及基體限制

4.    單板式透鏡架，擦拭時(shí)大大降低對(duì)光室的污染

5.    基于ARM9的儀器狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)

6.    網(wǎng)口采集，通用性更強(qiáng)

7.    固態(tài)吸附阱，防止油氣對(duì)光室的污染，提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性

8.    銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能

想必大家對(duì)鋼研納克SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀有了更深刻的了解,想知道更多便攜式X熒光光譜儀，拉曼光譜儀,手持式X熒光光譜儀等不同類型光譜儀的資訊，敬請(qǐng)關(guān)注鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司=網(wǎng)站。

操作火花直讀光譜儀時(shí)應(yīng)注意要點(diǎn)

控制樣品的使用

①、分析爐中樣品應(yīng)盡量采用同鋼種，接近含量的控制標(biāo)準(zhǔn)樣品。

②、一個(gè)控制樣品很難滿足多元素分析的要求，盡量做到分析樣品的含量與控制標(biāo)鋼的成分接近。

③、對(duì)特殊情況，個(gè)別元素接近邊緣規(guī)格或超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定時(shí)，應(yīng)選擇適當(dāng)含量的標(biāo)鋼去進(jìn)行控制。

④、應(yīng)隨時(shí)聯(lián)系電爐，取好光譜內(nèi)控制標(biāo)鋼，爐中快速分析，應(yīng)盡量采取澆注的控制標(biāo)鋼為好。

⑤、對(duì)成品試樣，要注意樣品的狀態(tài)(指淬火，退火狀態(tài))選擇適當(dāng)?shù)目刂茦?biāo)鋼。

5、氣的使用

①、換氣前，先將瓶?jī)?nèi)氣體空放一下，使瓶嘴沾污的泥土吹干凈。

②、接通氣表前應(yīng)試一下瓶嘴是否漏氣，發(fā)現(xiàn)漏氣應(yīng)另?yè)Q一瓶；如不漏氣，把表頭緊固接在瓶上。

緩慢打開(kāi)瓶上的一次壓力閥門(mén)，使一次壓力表指針逐漸上，然后緩慢調(diào)節(jié)二次表頭的壓力上升到規(guī)定的

讀數(shù)：0.15MPa氣源即可(視不同品牌儀器會(huì)有一些差異)，并規(guī)定：平時(shí)待機(jī)狀態(tài)：流量為0.1—0.5L／

min激發(fā)前大流量沖洗為5—8L／min激發(fā)流量3—5L／min

③、每次新?lián)Q氣后，工作曲線必須重新標(biāo)準(zhǔn)化。

④、當(dāng)瓶?jī)?nèi)壓力降到15個(gè)大氣壓時(shí)，需要更換新氣；如果在工作過(guò)程中發(fā)現(xiàn)激發(fā)斑點(diǎn)呈白點(diǎn)狀，也應(yīng)另?yè)Q一瓶新氣。

直讀光譜儀

清洗激發(fā)臺(tái)的內(nèi)表面，主要是避免殘留內(nèi)壁的粉塵放電影響分析結(jié)果。通常每激發(fā)100—200次應(yīng)清理一次。電極與激發(fā)面之間的距離，必須按極距要求調(diào)整好，如果與激發(fā)面的距離太大，試樣不易激發(fā)，如果電極與激發(fā)面的距離太小，曝光時(shí)放電電流太大，以至于與儀器各參數(shù)不相匹配，使測(cè)定結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間有差異，影響測(cè)定的準(zhǔn)確性。因此必須將電極與激發(fā)面的距離調(diào)整準(zhǔn)確，清洗激發(fā)臺(tái)和電極后一定要重視這個(gè)問(wèn)題。